Schichtdicke auf konstantem Niveau halten
Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weißlichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.
Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es,die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fließ- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.
Schichtdicke im gesamten Beschichtungsprozess beherrschen
Der Kratztest ist ein beliebter Adhäsionstest für dünne, harte und gut haftende Beschichtungen wie TiC (Titancarbid) auf Stahl oder Hartmetallsubstraten. Aber Kratztestproben können auch verwendet werden, um die Schichtdicke nicht transparenter Beschichtungen zu messen. Hierzu wird einfach die Stufenhöhe des Kratzers ausgewertet. Alternativ kann die Schichtdicke auch an der Kante einer Beschichtung gemessen werden. Schichtdicken ab wenigen μm aufwärts können auf transparenten Beschichtungen an jeder beliebigen Stelle detektiert werden.
Zudem kann eine Vielzahl von Oberflächendefekten in Beschichtungen und Metallisierungen optisch detektiert und qualifiziert werden wie Hohlräume, Schlieren, Ratterer, Tropfen, Flecken, Grübchen, Löcher, Kratzer, Beschichtungsstörungen, Verunreinigungen, Orangenhaut und visuelle Textureffekte. Die 3D-Oberflächenmesstechnik der TopMap-Serie zum Beispiel visualisiert derart Oberflächendefekte schnell, optisch und flächenhaft und bietet hochaufgelöste 3D-Messdaten zur fundierten Ursachenforschung. Anhand dieser Daten lässt sich der Herstell- und Beschichtungsprozess hinsichtlich erwünschter Schichtdicke schnell optimieren und überwachen. Solch eine optische und flächenhafte Qualitätskontrolle mittels Weißlichtinterferometern verbessert sowohl die Beschichtungsprozesse als auch die Endoberfläche.
Passende 3D Profiler für die Schichtdickenmessung
Micro.View
TopMap Micro.View® ist ein benutzerfreundlicher optischer Profiler im kompakten Tischaufbau. Micro.View® ist die kosteneffiziente Lösung zur Inspektion präzisionsgefertigter Oberflächen bis in den Sub-nm-Bereich und eignet sich für die Untersuchung von Rauheit, Mikrostrukturen und weiteren Oberflächenmerkmalen.
Micro.View+
Micro.View+ ist ein mikroskopbasierter Oberflächenprofiler mit Automatisierung und Farbkamerasystem. Er bietet reproduzierbare, anwenderunabhängige Analysen von Rauheit und Oberflächentextur und eignet sich sowohl für Laboranwendungen als auch für den Einsatz in der Produktion.
Pro.Surf+
Pro.Surf+ vereint Formmessung großer Flächen mit integrierter Rauheitsanalyse in einem Multi-Sensor-Profiler. Für schnelle, rückführbare Form- und Rauheitsergebnisse – bereit für den Einsatz in der Produktion.
Überzeugen Sie sich vor dem Kauf von der Leistung eines Profilers – nutzen Sie unseren „Try before buy“ Ansatz.
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