凭借白光干涉技术实现精准表面特性分析
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款顶尖的高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），以其卓越的大垂直测量范围与纳米级分辨率脱颖而出。这一特性，使得 Metro.Lab 形貌测量系统在针对大面积表面及结构的平面度、台阶高度和平行度进行非接触式测量时表现卓越，哪怕面对柔软娇贵、极易受损的材料，也能精准探测，毫无压力。
作为一套完备的测量站设备，一旦您有测量各类表面大面积形貌的需求，TopMap Metro.Lab 无疑是不二之选。它拥有高达 70 mm的大垂直测量范围，即便是在极为严苛、复杂的测量条件下，也能稳定达成亚nm 级分辨率的测量，精准度令人赞叹。
TopMap Metro.Lab 突出的性价比优势，使其无论是在对精度要求极高的计量实验室，还是争分夺秒、节奏紧凑的生产线周边，都备受青睐，极具实用价值。许多以往依赖接触式测量系统才能完成的复杂任务，如今它都能轻松胜任。与所有 TopMap 系统一脉相承，其开放式软件架构更是为用户提供了广阔的操作空间，您不仅能够自行编写常规任务的执行程序，还能依据个人需求，量身定制专属的用户界面，操作便捷又灵活 。
亮点
- 采用光学干涉原理，非接触式测量
- 远心镜头具备卓越性能，即便对于位置低洼的点位，也能精准测量
- Z向测量范围达 70 mm，非常灵活
- 即使是较大被测面，亦能快速测量
- 增强版本的测量视场大幅提升，可达约 80×80 mm2
- 软件操作简便且支持自动化运行，可生成符合 DIN/ISO 标准的参数
- 凭借智能表面扫描技术，几乎能够应对任何表面，精准检测反射率差异极大的表面
- 可集成于防尘、减震的工作站中，以便在车间使用
- 4 年免费保修和终身软件更新
TopMap Metro.Lab 性价比极高，无论是在计量实验室，还是在紧邻生产线的场所，于各类工作场景下都极具吸引力。相较于传统的接触式测量方法，它能够开展更为全面深入的表面分析。同所有 TopMap 系统一样，其开放式软件架构赋予用户强大的自主性，您不仅能够针对常规任务编写程序，还能定制专属的用户界面 。
3D 光学形貌测量
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Pro.Surf 是快速、专业 3D 表面特征描述的代名词：只需几秒钟就能捕捉 200 万个测量点，让您看到每个细节。 Pro.Surf 能够在短时间内完成要求苛刻的生产工作流程。 超宽视场（FOV）可一次捕捉图像区域达 33x44 mm 的大型样品，而灵活的 70 mm Z 范围可将拼接范围扩展至 230x220 mm。