较小预算的面积和形状特征描述
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款顶尖的高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），以其卓越的大垂直测量范围与纳米级分辨率脱颖而出。这一特性，使得 Metro.Lab 形貌测量系统在针对大面积表面及结构的平面度、台阶高度和平行度进行非接触式测量时表现卓越，哪怕面对柔软娇贵、极易受损的材料，也能精准探测，毫无压力。
作为一套完备的测量站设备，一旦您有测量各类表面大面积形貌的需求，TopMap Metro.Lab 无疑是不二之选。它拥有高达 70 mm的大垂直测量范围，即便是在极为严苛、复杂的测量条件下，也能稳定达成亚nm 级分辨率的测量，精准度令人赞叹。
大单像场
(扩展尺寸 87 x 78 毫米）
灵活、较大的 Z 范围
高垂直分辨率
免费保修 + 软件终身更新
亮点
- 采用光学干涉原理，非接触式测量
- 远心镜头具备卓越性能，即便对于位置低洼的点位，也能精准测量
- Z向测量范围达 70 mm，非常灵活
- 即使是较大被测面，亦能快速测量
- 增强版本的测量视场大幅提升，可达约 80×80 mm2
- 软件操作简便且支持自动化运行，可生成符合 DIN/ISO 标准的参数
- 凭借智能表面扫描技术，几乎能够应对任何表面，精准检测反射率差异极大的表面
- 可集成于防尘、减震的工作站中，以便在车间使用
- 4 年免费保修和终身软件更新
规模小、预算少
TopMap Metro.Lab 性价比极高，无论是在计量实验室，还是在紧邻生产线的场所，于各类工作场景下都极具吸引力。相较于传统的接触式测量方法，它能够开展更为全面深入的表面分析。同所有 TopMap 系统一样，其开放式软件架构赋予用户强大的自主性，您不仅能够针对常规任务编写程序，还能定制专属的用户界面 。
3D 光学形貌测量
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操作界面
在批量生产场景中，当需要调用多种预设置菜单时，“QC 操作界面” 优势尽显。借助这一界面，操作人员能够轻松管理多种样品，无论是带有不同菜单的各异样品，还是同一类别的不同变种样品，都能得到高效处理。
TopMap Pro.Surf
Pro.Surf 是快速、专业的表面形貌 3D 测量解决方案： 在数秒内捕捉 200 万个测量点，确保看到每个细节。 Pro.Surf 能够以极快的测量速度应对具有挑战性的生产工作流程。 33x44 mm 的超大视场角 (FOV) 可在一次拍摄中捕捉大型样品甚至多个样品。 通过 70 毫米的大 Z 范围，拼接范围可扩展至 230x220 毫米，灵活性更高。