Compact bench profiler - Metro.Lab

Metro.Lab – l'interféromètre compact à lumière blanche

L'interféromètre à lumière blanche économique pour des mesures simples, rapides et traçables de la forme et du profil, même dans les alésages. Et si compact que vous pouvez le placer sur le plus petit des établis.

Libérez votre potentiel en matière de performance et de qualité

Notre interféromètre à lumière blanche Metro.Lab est un système de mesure optique compact qui capture la topographie aréale 3D d'une surface avec une précision verticale de l'ordre du nanomètre (<2,85 m).

L'optique télécentrique maintient un grossissement constant et une distance de travail sûre. Grâce à cette technologie, le système de mesure Metro.Lab est idéal pour mesurer la planéité, la hauteur des marches et le parallélisme de grandes surfaces et structures, même sur des matériaux souples et délicats, y compris dans les alésages.

Le logiciel basé sur des recettes prend en charge les routines d'assurance qualité et la création de rapports fondés sur la répétabilité.

3D surface profile lenses
37 x 28
mm
Champ de vision unique (FoV)
70
mm
flexible, large plage Z
< 2,85
nm
résolution verticale
Points forts

Interféromètre à lumière blanche pour un contrôle qualité efficace

Applications

Tâches métrologiques et visualisations

Vous trouverez ci-dessous quelques résultats concrets obtenus à partir de tâches standard réalisées sur des matériaux d'ingénierie courants. Ces exemples ont été recueillis par nos centres d'application qui réalisent des études de faisabilité et proposent des services de mesure contractuels.

Visualisation de grande surface
Optical Profilometer measurement: Flatness parallelism
Mesure de la planéité et du parallélisme
Optical Profilometer: MEMS pressure topography
Topographie d'un capteur de pression MEMS
Optical Profilometer measurement: Hard drive disk waviness
Ondulation du disque dur

Choisissez en toute confiance la solution d'profilomètre de surface qui vous convient : demandez une démonstration de nos capacités.

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Caractéristiques

Compact WLI avec objectif télécentrique et large champ de vision (FoW)

La plateforme Metro.Lab combine une optique grande surface, une longue plage Z et un logiciel conforme aux normes ISO pour des mesures précises et de répétabilité, même sur des éléments encastrés ou délicats.

  • Le large champ de vision (37 × 28 mm avec stitching 87 × 78 mm) permet l'analyse par lots ou de grands échantillons.
  • Le WLI/CSI télécentrique (Michelson) évite les ombres, permettant des mesures d'alésage/flanc.
  • Plage verticale de 70 mm avec une résolution de l'ordre du nanomètre
  • Assistance à l'opérateur avec recettes et connectivité pour lecteur de codes-barres
Données techniques

Les capacités de Metro.Lab en chiffres

Plage verticale70 mm
Reproductibilité de la hauteur d’escalier (5 µ – 5000 µ)8 % - 0,005
Résolution verticale2,83 nm
Champ de vision (FoV)37 x 28 mm
Champ de vision avec stitching87 x 78 mm
Pixels XY1284 x 966
Échantillonnage numérique XY29,3 µm
Reproductibilité20 nm
Planéité<0,375 µm
Téléchargements
Alternatives

Si vous avez besoin de plus ? Pro.Surf est la solution qu'il vous faut.

Metro.Lab et Pro.Surf sont tous deux des profileurs WLI/CSI macroscopiques et télécentriques avec une plage Z de 70 mm. La gamme Pro.Surf peut être un meilleur choix dans les cas suivants :

  • Les composants et les lots à mesurer sont plus grands
  • Une résolution et une répétabilité plus élevées sont requises
  • Les paramètres de forme et de rugosité surfacique doivent être mesurés
  • Un débit (throughput) plus élevé et une intégration plus étroite de la production sont nécessaires

Dans de tels cas, Pro.Surf peut être le meilleur choix.

Discutez de vos besoins avec nos experts

Commençons par une brève discussion sur vos pièces, vos tolérances et votre flux de travail. Si nécessaire, nous pouvons ajouter une étude de faisabilité, PolyMeasure (mesures contractuelles) ou un essai PolyRent comme étapes supplémentaires facultatives.

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