ISO 21920 粗さ

ISO 21920 - 粗さ測定における規格の意義

ISO 21920は、機械工学、設計、および粗さ仕様に関する新たな規格です。この改訂されたISO規格の背景、日常的な粗さ・形状測定への影響、ISO 21920の3部構成の意味、品質管理への導入方法について詳しく解説します。Polytec がご案内します！

ISO 21920は、粗さプロファイリングに関する中核的な規則体系であり、数十年前に策定された規格の一部を置き換え、現代化しています。

Roughness measurement example in different scales from µm to nm

表面粗さと仕上げは視点によって異なる

機械加工における幾何学的仕様（例：部品の正確な寸法）や形状・位置公差（例：穴の位置）への適合に加え、表面品質は、従来の機械工学から電子機器、半導体、光学部品に至るまで、その機能性と長期性能において極めて重要な役割を果たします。用途に応じて、表面粗さの要求値は数桁のオーダーで異なり、1ナノメートル[nm]未満から数マイクロメートル[µm]まで幅広い範囲に及ぶ。

High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface

Sa, Sz, Sq instead of Ra, Rz, Rq - Areal roughness measurement ISO 21920 - measuring roughness and surface form on precision parts Measuring roughness and surface form on precision parts Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Micro roughness with cross section of a wafer surface Micro roughness with cross section of a wafer surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface — Ra、Rz、Rq の代わりに Sa、Sz、Sq - 面粗さ測定 Sa、Sz、Sq を Ra、Rz、Rq の代わりに使用

Measuring roughness and surface form on precision parts — 精密部品の粗さと形状測定

Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts — 有機材料（自動車用皮革）における断面を用いた表面粗さ測定

Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Micro roughness with cross section of a wafer surface Micro roughness with cross section of a wafer surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface — ウエハー表面の断面における微細粗さ

ISO 21920に関する限定ガイドをダウンロード

技術図面の重要性（ISO 1302に代わるもの）、ISO 21920がRa値以上の意味を持つ理由（ISO 4287およびISO 13565-2/-3に代わるもの）、有効な測定結果を得る方法（ISO 4288に代わるもの）について、完全版独占論文（ログイン必要）をお読みください。

ISO 21920ガイドをダウンロード

粗さ概念 – ISO-21920の原理

これまでの例で示したように、「粗さ」は抽象的な用語であり、視点や期待値によって人によって異なる意味を持つ可能性があります。粗さに関する基本的な概念を簡潔に説明するウェビナーにご参加いただくか、お問い合わせください。これにより共通認識が得られるでしょう。

ISO 21920 均一粗さ仕様

ISO 21920規格化の目的の一つは、粗さ仕様の解釈における曖昧さを防止し、設計部門と品質管理部門など間の明確なコミュニケーションを可能にすることである。三部構成のISO 21920規格は以下を規定する：

図面への入力方法
パラメータの算出方法
およびそれらの測定方法

プロファイリングに関するISO 21920規格の構成

ISO 21920はプロファイリング規格であり、3部構成である

表面仕上げの仕様（ISO 1302に取って代わる）
用語とパラメータ（ネスト指数、Rプロファイル、Ra - Rz...）（ISO 4238、13565-2および-3に取って代わる）
仕様演算子（ISO 4288に代わるもの）。

一部の用語とパラメータは、2012年に初版が発行された表面規格ISO 25178に基づいています。多くの場合、表面粗さ測定はプロファイルベースの粗さ測定に比べて決定的な利点があります。表面粗さの光学式・面積測定は、光学式かつ非接触であるだけでなく、ワンクリックで表面の完全な画像を提供します。

これは、測定された特定のプロファイルがワークピース表面全体を代表しているかどうかを保証できない場合に特に有益である。

Polytec 白色光干渉計を用いた表面粗さの測定方法

WLIプロファイラー（ISO対応表面測定用）

Micro.View

TopMap Micro.View® is an easy to use optical profiler in a compact table-top setup. Choose Micro.View® as the cost-effective inspection tool for examining precision-engineered surfaces down to the sub-nm range, for inspecting roughness, microstructures and more surface details.

Micro.View+

Advanced microscope-based surface profiler with automation and color imaging. Micro.View+ enables repeatable, operator-independent roughness and texture analysis—ready for lab and production use.

Pro.Surf+

Multi-sensor optical profiler combining large-area form measurement with integrated roughness analysis. Pro.Surf+ delivers fast, traceable form and roughness results in one production-ready system.