顕微鏡型レーザドップラ振動計

マイクロシステムアナライザ MSA-600 

オールインワンでMEMSの振動と形状を測定

マイクロシステムアナライザ MSA-600

MEMSや微細構造物の動的応答と表面粗さ・形状の測定

MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems)などの微細構造デバイスの試験や開発において、表面形状や動的運動の解析と可視化は重要な役割を担っています。MSA-600マイクロシステムアナライザは、表面形状や面内・面外運動の特性を測定するためのオールインワン光学測定ワークステーションで、FEモデルの検証、クロストーク効果の判定、表面変形の測定などに不可欠な装置です。

MSA-600-M/Vは、最大25 MHzの周波数範囲をカバーし、MEMSアクチュエータ、MEMSマイクロホン、その他のマイクロシステムに最適です。MSA-600-X/Uは、2.5 GHzまでの高周波および超高周波領域に対応し、高周波MEMS共振器やSAW(表面弾性波)、BAW(バルク音響波)などのマイクロアコースティックデバイスの評価に最適なモデルです。

MSA-600-Sは、8GHzのリアルタイム振動解析と表面形状解析に特化した光学測定ワークステーションです。FBAR(フィルムバルク音響共振器)、BAWフィルタ、SAWデバイスなどのGHz帯MEMSのテストに最適です。

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特長

マイクロストラクチャのためのオールインワン光学測定ワークステーション
リアルタイム測定(後処理不要)
測定周波数帯域 最大 25 MHz(MSA-600-M / V)
測定周波数帯域 最大 2.5 GHz(MSA-600-X / U)
測定周波数帯域 最大 8 GHz(MSA-600-S)
サブピコメートル変位分解能
振動形状のすばやい測定と可視化
直観的かつ直感的な操作
MEMSプローブステーションとの統合が容易
FEモデル検証のためのインポート/エクスポートオプション

MEMSおよびマイクロ構造解析のためのオールインワン光学測定ソリューション

MSA-600 マイクロシステムアナライザは、測定の柔軟性と精度を高め、現在および将来の微細構造のニーズに対応します。マイクロシステムアナライザは、高精度な3Dダイナミックおよびスタティック応答データを提供し、デバイスの性能を向上させるとともに、開発および製造コストを削減します。そのため、設計サイクルの強化・短縮、トラブルシューティングの簡略化、歩留まりの向上が図れます。

高性能レーザドップラ振動計は、サブ pm の変位分解能で高速かつリアルタイムの応答計測を実現します。また、白色光干渉計のオプションにより、数百万単位の 3D 表面データを瞬時に取得できます。MSA-600 は、わかりやすい操作性と直感的なユーザーインターフェースにより、研究開発および品質管理における強力な光学計測ソリューションとしてご利用いただけます。一般的なプローブステーションと互換性のあるこのマイクロシステムアナライザは、MEMSのプロトタイピングからテスト、トラブルシューティングまで、開発のあらゆる段階をサポートし、生産コストの削減と市場投入までの時間の短縮を支援します。

MEMSダイナミクスとトポグラフィー測定に最適なMSA-600 マイクロシステムアナライザワークステーションおよびコンポーネント
6.8 kHzにおける、くし歯型駆動部の非接触・全視野振動測定
MEMSの面内測定を可能する、PMA( Planar Motion Analysis)による測定
くし歯型駆動部の平面度、高さ、平行度など3次元表面トポグラフィー

GHz帯MEMSに特化した8GHz帯テストソリューション

MSA-600-Sは、8GHzまでの振動解析と表面性状評価を可能にした、世界初の専用光学測定ワークステーションです。GHz帯デバイスの開発、形状パラメータ評価のための品質管理、デバイスの性能・信頼性試験などにご利用ください。FBAR(フィルムバルク音響共振器)などの高周波デバイスや、GHz帯の共振器、デバイスの試験が可能です。

研究開発および製造時の光学式MEMSテストシステム
最大8GHzまで測定できるMSA-600-Sマイクロシステムアナライザ 
MPI製プローブステーションとポリテックMSA-600の組み合わせ

ウェハレベルおよびシングルダイのテスト

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アクセサリーとコンポーネント

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