Uhrenmechanik profitiert von Weißlichtinterferometrie
Die Oberflächenqualität von Präzisionsmechaniken wie Uhrenbauteilen hängt von der Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit der CSI Coherence Scanning Interferometer ab (auch bekannt als Weißlichtinterferometrie). Prüfen Sie geometrische Toleranzen an Uhrenkomponenten und messen Sie Formparameter wie Ebenheit, Parallelität oder Stufenhöhe in der Uhrmacherei.
TopMap sind optisch scannende Weisslichtinterferometer und liefern schnell und vollständig hochauflösende Messdaten. Im Vergleich zu aternativen optischen Messverfahren wie Streifenprojektion oder Fokusvariation messen TopMap Weißlichtinterferometer zuverlässig selbst bei rauen wie auch optisch glatten Oberflächen!
Ebenheit, Dicke und Parallelität von Uhrenkomponenten
Werfen wir einen genaueren Blick über die Schulter eines Uhrmachers, um zu sehen, wie Weißlicht-Interferometer bei der Feinwerktechnik hilft. Stufen und Höhen im nm Bereich messen, Formparameter wie Ebenheit und Parallelität von Uhrenteilen und anderen feinmechanischen Teilen wiederholgenau optisch prüfen. Beim winzigen Zahnradantrieb einer Uhr, hier als intuitive 3D-Topographie dargestellt, soll die Oberflächenrauheit auf der geneigten Fläche von etwa 100 x 300 μm2 gemessen werden. Taktile Messverfahren würden aufgrund der Geometrie der Messfläche vor Hindernissen stehen. Die optische Messtechnologie der Weißlichtinterferometrie ermöglicht hingegen die Erfassung der Topographie innerhalb weniger Sekunden.
Für den innovativen kombinierten Messansatz von Ebenheit, Dicke und Parallelität in einer Messung lesen Sie mehr über diese spezielle Feinmechanik-Lösung oder kontaktieren Sie uns.
Zugehörige Produkte
TopMap Pro.Surf
Die schnelle und professionelle 3D-Charakterisierung Ihrer Oberflächen: Flächenhaft 2Mio Messpunkte binnen Sekunden erfassen, um kein Detail zu übersehen. Pro.Surf meistert anspruchsvolle Taktungen der Produktion mit sehr kurzen Messzeiten. Es besticht durch sein großes Einzelbildfeld von 44x433mm, um große oder gleich mehrere Prüflinge auf einmal zu messen, mit Stitching auf 230x220 mm und mit 70 mm Z Achse für noch mehr Flexibilität.
TopMap Micro.View
Micro.View® ist ein intuitives 3D-Profilometer als kompaktes Tischgerät: Die kosteneffiziente Prüflösung zur berührungsfreien Messung präzisionsgefertigter und funktionaler Oberflächen im sub-nm Bereich – ob Rauheitsmessung, Mikrostrukturanalyse, Texturen oder sonstige Oberflächendetails. Objektive von 0,6x bis 111x und weitere Verfahreinheiten erlauben anwendungsspezifische Setups.
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profiliometer: modularem und flexibel für die anspruchsvolle Oberflächenmessung - Texturen, Rauheit, Finish, Mikrostrukturen oder MEMS mit einer Auflösung im Sub-nm-Bereich erforschen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, entlang des außergewöhnlich großen Z-Bereichs von 100 mm, während die vollmotorisierte Positioniereinheit sowohl für effizientere Prüflabore wie automatisierte Inspektionen in der Produktion eignet. Fordern Sie Micro.View+ heraus!
