制表商信赖 CSI 相干扫描干涉仪
钟表零件的表面质量取决于 CSI 相干扫描干涉仪(又称白光干涉仪)的测量精度和重复性。检查钟表部件的几何公差,测量钟表制造中的平面度、平行度或台阶高度等形状参数。
TopMap 扫描白光干涉仪可快速、完整和高分辨率地测量微小部件的数据。与其他光学测量技术(边缘投影或焦距变化)相比,TopMap 光学轮廓仪可在粗糙和光学光滑表面上进行可靠测量!
钟表零件的表面质量取决于 CSI 相干扫描干涉仪(又称白光干涉仪)的测量精度和重复性。检查钟表部件的几何公差,测量钟表制造中的平面度、平行度或台阶高度等形状参数。
TopMap 扫描白光干涉仪可快速、完整和高分辨率地测量微小部件的数据。与其他光学测量技术(边缘投影或焦距变化)相比,TopMap 光学轮廓仪可在粗糙和光学光滑表面上进行可靠测量!