Kombinierte Oberflächenmessung von Ober- und Unterseite
Die Funktionalität und Qualität von industriell gefertigten Bauteilen sind eng verzahnt mit der Fertigungskontrolle und den Bearbeitungsschritten. Bei der Qualitätskontrolle, ob produktionsnah oder inline, wird häufig die Oberflächenmesstechnik zur Überprüfung von Formparametern, Rauheit und mehr eingesetzt. Manchmal ist dabei der kombinierte Blick auf Vorder- und Rückseite eines Werkstücks unerlässlich für eine umfassende Bewertung.
Polytec bietet nun eine alternative Lösung für valide Messergebnisse durch eine kombinierte Topografiemessung der Oberseite und Unterseite in einer einzigen, aber flächenhaften und direkten Messung.
Topografie von oben und unten direkt erfassen?
3D-Topografie von Vorder- und Rückseite
Manchmal ist dabei der kombinierte Blick auf Vorder- und Rückseite eines Werkstücks unerlässlich für eine umfassende Bewertung. Dies kann bedeuten, die Probe mechanisch drehen zu müssen, eine Referenzfläche für eine indirekte Messung zu nutzen oder zwei redundante Sensoren von jeder Seite anzubringen. All diese Ansätze sind mit Mehraufwand und Messunsicherheit verbunden.
Das neue Polytec Modul FTP Flatness-Thickness-Paralellism ist die schnelle und umfassende Messlösung zur gleichzeitigen Bewertung von Ebenheit, Dicke und Parallelität. Das FTP-Messmodul für rück- und vorderseitige Oberflächencharakterisierung kann die Qualitätskontrolle in der Feinmechanik, wie z.B. in der Uhrenindustrie, bei Dichtflächen, Unterlegscheiben oder optischen Bauteilen, revolutionieren.
Mechanisches Drehen der Probe
In einigen Fällen können Vorder- und Rückseiten eines Prüflngs durch Drehen der Probe gemessen werden. Dies wird meist durch eine Rotationseinheit realisiert und erfordert ein komplexes Ausrichtungsverfahren für die erforderliche Genauigkeit. Das FTP-Konzept von Polytec misst ohne Drehen und vermeidet zusätzliches Ausrichten, was den Messvorgang schneller und einfacher gestaltet.
Wir werten Ebenheit, Parallelität und Dicke in einer Messung aus
Indirekte vs. direkte Oberflächenmessung
Bei indirekten Messungen wird eine Referenzfläche verwendet, um die Rückseite einer Probe zu charakterisieren, da die ursprüngliche Probenoberfläche nicht zugänglich ist. Diese Standardverfahren führen oft zu zeitaufwendigen, sequenziellen Messungen eines Werkstücks. Außerdem basieren die Ergebnisse auf der Prämisse, die Referenzoberfläche sei perfekt, was in der Praxis erhebliche Abweichungen aufweisen kann.
Unterschiedliche Datendichte bei Linienprofil oder flächenhafter Topografie
Herkömmliche Auswertungen auf der Grundlage von Einzelpunkten oder Linienprofilen können nur eine begrenzte Anzahl von Messpunkten der realen und komplexen Oberfläche erfassen. Benötigt man mehr Datenpunkte, führt dies zu zeitaufwendigeren Messabläufen, worunter wiederum die Prüfeffizienz und Produktivität leidet. Hier bietet die kombinierte FTP-Messung von Polytec eine berührungslose Alternative, gewährleistet eine hohe Datendichte und misst flächenhaft von oben und unten in einer einzigen Messung.
Zugehörige Produkte
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.
