製錶師仰賴CSI相干掃描干涉儀技術來實現精密調校
鐘錶零件的表面品質取決於CSI相干掃描干涉儀（亦稱白光干涉儀）的測量精度與重複性。此技術可檢測鐘錶元件的幾何公差，量測形狀參數如平整度、平行度或台階高度。
TopMap 區域掃描白光干涉儀能為微型零件提供快速、完整且高解析度的測量數據。相較於其他光學測量技術（如條紋投影或焦點變化法），TopMap 光學輪廓儀無論在粗糙表面或光學平滑表面上皆能實現可靠測量！
表面輪廓儀
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
巨觀分析器
Pro.Surf凭借其区域地形扫描技术，能更快地确定形状与平整度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，最大视场与真实拼接功能轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析一体化操作。
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合，特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
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相關應用與測量任務
超精密加工
Surface metrology for precision and ultraprecision mechanics, form precision measurement in µm, areal roughness accuracy in (sub)nanometer range.
形狀偏差與粗糙度
Characterize entire workpiece surfaces, calculate volume and exactly determine peaks and valleys on behalf of the examined distance parameters.
