製錶師仰賴CSI相干掃描干涉儀技術來實現精密調校
鐘錶零件的表面品質取決於CSI相干掃描干涉儀（亦稱白光干涉儀）的測量精度與重複性。此技術可檢測鐘錶元件的幾何公差，量測形狀參數如平整度、平行度或台階高度。
TopMap 區域掃描白光干涉儀能為微型零件提供快速、完整且高解析度的測量數據。相較於其他光學測量技術（如條紋投影或焦點變化法），TopMap 光學輪廓儀無論在粗糙表面或光學平滑表面上皆能實現可靠測量！
表面輪廓儀
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
巨觀分析器
Pro.Surf凭借其区域地形扫描技术，能更快地确定形状与平整度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，最大视场与真实拼接功能轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析一体化操作。
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合，特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
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