腕錶元件與精密機械的3D地形圖

製錶師仰賴CSI相干掃描干涉儀技術來實現精密調校

鐘錶零件的表面品質取決於CSI相干掃描干涉儀（亦稱白光干涉儀）的測量精度與重複性。此技術可檢測鐘錶元件的幾何公差，量測形狀參數如平整度、平行度或台階高度。

TopMap 區域掃描白光干涉儀能為微型零件提供快速、完整且高解析度的測量數據。相較於其他光學測量技術（如條紋投影或焦點變化法），TopMap 光學輪廓儀無論在粗糙表面或光學平滑表面上皆能實現可靠測量！

Micro.View系列针对亚纳米级的超高分辨率测量进行优化。凭借聚焦光学与高纵向分辨率，可对微结构、表面光洁度与材料分布进行精细分析，即便是细微的偏差也能精准捕捉。

Pro.Surf凭借区域形貌扫描技术，可更快地确定形状与平面度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，大视场与真实拼接功能可轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析的一体化操作。

Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪，将出色的测量性能与小巧的占地面积相结合，特别适用于空间或预算受限、但仍需可靠3D表面数据的应用场景。

两份简明指南将带您完成关键决策：一份帮助您选择合适的测量技术，另一份帮助您选择合适的测量尺度——微观还是宏观。此外，通过我们的先试后买服务，您可以用自己的工件实际验证您的选择。

让我们先简短沟通您的零件、公差要求与工作流程；如有需要，后续可灵活追加可行性研究、PolyMeasure合约测量服务或PolyRent试用方案。