製錶師仰賴CSI相干掃描干涉儀技術來實現精密調校
鐘錶零件的表面品質取決於CSI相干掃描干涉儀（亦稱白光干涉儀）的測量精度與重複性。此技術可檢測鐘錶元件的幾何公差，量測形狀參數如平整度、平行度或台階高度。
TopMap 區域掃描白光干涉儀能為微型零件提供快速、完整且高解析度的測量數據。相較於其他光學測量技術（如條紋投影或焦點變化法），TopMap 光學輪廓儀無論在粗糙表面或光學平滑表面上皆能實現可靠測量！
表面輪廓儀
显微式形貌测量仪
Micro.View系列轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率，可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中，提供可靠的数据支撑。
大视场3D轮廓仪
Polytec大视场3D轮廓仪Pro.Surf系列，专为生产环境设计。远心光学与真拼接技术实现大面积形状、平面度快速测量，可选配粗糙度测量功能。单次视场44×33mm，70mm Z轴范围，支持自动化。提供四年保修及先试后买服务。
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪，将出色的测量性能与小巧的占地面积相结合，特别适用于空间或预算受限、但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
选择合适的表面测量方案，可放心选用轮廓仪。通过我们的"先试后买"方案，让您轻松获益。
两份简明指南将带您完成关键决策：一份帮助您选择合适的测量技术，另一份帮助您选择合适的测量尺度——微观还是宏观。此外，通过我们的先试后买服务，您可以用自己的工件实际验证您的选择。
