桌面式3D光学轮廓仪
TopMap Micro.View 是一款操作极为简易、设计精巧紧凑的桌面式3D光学轮廓仪。它功能强大，具有卓越性能与高性价比。 Micro.View 的Z 轴测量范围可达 100 mm，具有先进的 CST 连续扫描技术，nm 级分辨率，精确测量复杂的表面形貌。其便捷的桌面式设计，内置集成电子元件，搭配智能焦点寻找功能，大幅简化并加速了测量流程，为用户带来高效、精准的测量体验 。
亮点
- 在紧凑的装置中测量表面光洁度
- 非接触式3D地形，粗糙度和纹理的测量
- 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围
- 焦点查找器可实现更快、更可靠的检查
- 高超的横向分辨率
- 特定应用目标（新！0.6X 至 111X）
- 4 年免费保修和终身软件更新
用于表面轮廓分析的显微测量系统
白光干涉仪可捕捉精密表面最精细的结构细节。 我们基于显微镜的轮廓仪可表征表面纹理并量化工件表面的粗糙度或光滑度。 利用电动测量、自动定位和自动对焦查找器，让您可以专注于质量。
在精密加工的表面检测中，白光可精准呈现其最细微的细节。显微物镜能够对工件表面光洁度进行细致表征，还能精确量化表面的粗糙或光滑程度。该系统配备电动表面测量装置与自动定位功能，操作便捷高效。此外，系统具有的 “焦点查找功能” 可自动辅助对焦，助力您将精力完全聚焦于表面质量评估，为您的表面轮廓分析工作提供全方位支持 。
小体积，大功能
Micro.View 可选配 ECT 环境补偿技术，该技术优势显著，即便置身于嘈杂、条件复杂的生产环境，也能确保可靠且精准的测量结果。无论是制造业中对精密加工表面的质量把控，还是科研领域里针对相关表面的深入检测分析，Micro.View 都堪称一款极具成本效益的得力质量控制仪器 。
精确测量，深植于经验的土壤，依托专业知识的支撑，更离不开我们所信赖的专家与前沿技术。让我们一同深入幕后，探寻 TopMap的发展脉络，走近其背后的杰出团队，结识 PolyX的精英专家们。即刻启程，加入我们的精彩征程！
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