TMS Software - 高效表面輪廓測量的基準

擷取、評估與分析光學3D表面數據——隨後透過基於配方(recipe-based)的品質控制與報告機制,將例行檢測標準化。

您用于深度表面研究和高效生产质量控制的软件。终身免费更新!

作为 TopMap 测量系统的核心部件,Polytec TMS 可采集、过滤、可视化、分析和记录您的形状和粗糙度测量数据。其开放式架构可进行应用特定的调整和全面自动化。请咨询以下附加组件:

  • QC Operator Interface:生产环境中的单击解决方案,管理测量配方,实现高效、重复的测量例程
  • QC Verifier:采用获得专利的 ECT 环境补偿技术,即使在嘈杂的生产环境中也能获得稳定的测量结果
  • QC Settings Comparator:标准化并轻松监控不同地点/生产线之间的测量设置
  • TMS Viewer:快速共享结果和团队协作的解决方案
  • Polytec Update:实用的在线服务工具,用于更新
  • SDK 软件开发工具包:用于创建用户定义和应用特定的评估

这些模块和其他模块通过可靠、可追溯的测量,支持高效检查以及深入的表面分析。

TopMap QC Package 生產過程中的品質檢驗

TopMap 表面測量系統旨在監控製造流程,確保符合生產公差與製程能力要求。品質控制套件配備智慧功能與升級選項,專為品質管控任務設計,尤其適用於實際生產測試。深入瞭解品質控制套件如何支援3D表面檢測,特別是在嚴苛生產環境中的應用。

专利ECT环境补偿技术,在嘈杂的制造环境中实现清晰效果

在工厂车间,振动、气流和零件运动可能成为干扰因素,破坏精密测量导致误判报废。QC Verifier能在生产线上提供可靠的合格/不合格判定,减少误判报废和废品率。其专利ECT环境补偿技术可隔离振动、噪音和运动等车间干扰,确保精密测量结果稳定且可追溯。测试ECT技术,实现清晰的合格/不合格判定。

選擇合適的表面處理方案,請放心選擇轮廓仪 ——立即體驗我們的專業能力。

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從表面測量學到全面地形分析

Polytec針對TopMap 系列地形測量系統(TMS)的TMS Software ,提供豐富功能與選項,不僅能快速簡便地執行常規測量,更能滿足您對表面進行全面且細緻分析的需求:

  • 干涉定位器可自動偵測待測表面
  • 智慧表面掃描技術可實現不同反射與對比特性表面的測量
  • 支援遮罩、輪廓與圖層操作
  • 依據多種2D與3D表面參數進行評估
  • 可依QS-Stat等標準匯出多種特性值
  • 透過應用程式專用附加元件建立任務專屬使用者介面
  • 提供幾何評估選項,適用於球體匹配及階梯高度、層厚與體積之測定
  • 透過快速拼接多項測量結果(縫合技術)擴展最大橫向測量區域
  • 擴充報告選項以傳送結果

质量控制操作界面:生产级别的单键解决方案

质量控制操作界面管理您的"测量配方",显著简化所有采集设置与评估参数的定义流程

定义、调整并保存采集设置(如测量位置、照明条件、相机参数),同时保存并微调评估设置(如后处理步骤、可视化选项、导出功能,甚至后续报告生成),满足各类特定测量任务需求。

该测量配方在制造环境中尤为实用,可作为一键式解决方案用于常规检测和重复测试,即使未经培训的操作员也能轻松使用。TopMap配方将复杂的表面分析转化为简单的单击任务。

量身打造,滿足您的需求

將表面測量技術緊密整合至製造流程,能為工業生產帶來顯著效益。唯有如此,檢測反饋方能實現即時且具成本效益的應對措施。

TopMap Polytec 的表面計量系統能協助調整製造參數,確保生產始終符合公差要求,並提升製程能力。

實現高效工作流程的軟體

將表面測量技術緊密整合至製造流程,能為工業生產帶來顯著效益。唯有如此,檢測反饋方能實現即時且具成本效益的應對措施。Polytec 的TopMap 表面測量系統,可協助調整製造參數、確保生產公差符合規範,並提升製程能力。

客製化硬體與系統

Polytec 提供基於您特定需求的個別客製化硬體與軟體解決方案,實現交鑰匙解決方案。例如,可選配玻璃補償功能以穿透透明材料進行測量。

憑藉模組化架構的硬體、先進軟體及整合能力,可針對客戶需求優化線上與離線系統。

與我們的專家討論您的需求

讓我們先簡短討論您的零件、公差要求與工作流程——若您認為有幫助,後續可選擇性追加可行性研究、PolyMeasure(合約量測服務)或PolyRent試用方案作為後續步驟。

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