高周波デバイス

レーザドップラ振動計による高周波デバイスの動作テスト

今日、マイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、コンポーネントの多くが、MHzやGHzという高い周波数領域で振動しています。これらはたとえば、車載デバイスの位置センサや情報発信機器、医療用イメージングに使用されている超音波センサやトランスデューサにおいて使用されています。これらのコンポーネントの機能をテストするには、既存のシミュレーションモデルをチェックし、デバイスの設計を最適化するために、動的挙動を測定する必要があります。

レーザドップラ振動計はこれらに対する一つのソリューションとなりえます。MHz、GHzの高周波数帯域の振動モードを可視化することができ、振動特性を非接触で測定することができます。また、デバイス単体だけではなく、アレイ内のクロストークを測定し、グラフ化することもできます。過渡現象や減衰についても簡単に可視化することができます。また、測定時間が非常にスピーディなため、開発プロセスにおける計測工程の時間短縮につながり、大きな利点となります。

さらに、レーザドップラ振動計は光学計測機器なので、ガラスや透明なケースなど、光を透過する物質越しの測定も可能です。よって水中や、真空中の測定物も計測できます。ポリテックのレーザドップラ振動計ラインナップでは、最大2.5 GHzの高周波数帯域の振動を簡単かつ高精度に測定できます。超音波を使って3次元音場を解析するアプリケーションでは、ポリテックのスキャニング振動計の測定結果とシミュレーション結果によって、従来よりも、簡単かつスピーディに音場を解析することができます。

ギガヘルツ領域の面全体の振動測定

最大2.4GHzの高周波で振動するサンプルの挙動を、比較的簡単かつ高精度に測定します。測定時間が短く、エリア全体を一度にスキャンできることは、この測定方法の大きな利点であり、最終的には特に開発プロセスを改善します。室内に設置したノイズセンサーを使って3次元音場を測定する代わりに、1回または複数回のスキャン測定とそれに続くシミュレーションだけで、結果としての音場を決定することができます。

VibroScan QTec Xtra

VibroScan QTec Xtraは、振動を非接触、全視野、前例のない精度で測定する新しいソリューションです。画期的なマルチパス干渉計を備えたQTec® は、光学感度と干渉耐性の点で新しいスタンダードを確立しました。赤外線 (SWIR) レーザーをベースとするXtra は、最高の光学感度を特徴としており、要求の厳しい技術的表面でも高精度の測定を保証します。VibroScan QTec Xtraは、最大32MHzの信号発生器を内蔵しつつも、統合されたデータ取得により最大限の携帯性を保証します。

VibroScan QTec Neo

VibroScan QTec Neoは、振動を非接触、全視野、前例のない精度で測定する新しいソリューションです。ポリテックは世界で初めて赤外線SWIRレーザから可視光のヘリウムネオンレーザへ、QTec®テクノロジーの拡張に成功しました。レーザスポットが小さい高精度ヘリウムネオンレーザは、微細構造の測定や水中または水中を透過しての測定に適しています。QTec®は常に安定した測定と最高の信号対雑音比を提供します。VibroScan QTec Neoは、最大32MHzの信号発生器を内蔵しつつも、統合されたデータ取得により最大限の携帯性を保証します。

マイクロシステムアナライザ MSA-650 IRIS

MSA-650 IRIS マイクロシステムアナライザは、赤外線レーザを採用した特許取得済みの革新的な顕微鏡型レーザドップラ振動計で、測定周波数帯域は最大25 MHzで、シリコンキャップ越しにマイクロシステムを測定することができ、デバイスに接触したりデキャップすることなく、真のMEMSダイナミクスを明らかにします。

レーザドップラ振動計 VibroFlex

ポリテックのモジュール型レーザドップラ振動計 VibroFlex は、測定周波数帯域は最高24 MHzまでで、測定要件に合わせて、測定レンジやセンサヘッドを選択できます。従来品に比べSNRを20dB向上させ、低ノイズ測定を実現する特許技術 QTecを搭載したセンサヘッドや、顕微鏡対物レンズ越しの測定、人の立ち入りが難しいなどの理由による遠隔測定、機械や部品など複雑形状の狭小部の測定など、それぞれの測定シーンに適したセンサヘッドをラインナップしています。ポリテックのレーザドップラ振動計は、製品の研究開発や、製造工程のインライン検査などに使用されており、簡単でスピーディ、高精度な測定を実現し、ものづくりの現場の製品化スピードと、品質管理向上に貢献しています。