非接触 表面粗さ・形状測定を始めるには
TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな光学式形状測定器です。強力な計測ソリューションは、卓越した機能および優れたコストパフォーマンスを持っています。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。
特長
コンパクトなセットアップで表面を測定
3D形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定
CST (Continuous Scanning Technology) による 100 ミリメートルの z 方向測定レンジ
高いXY分解能
アプリケーションに合わせた対物レンズの選択
拡張された機能を持つコンパクトなフットプリント
ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションの ECT (Environmental Compensation Technology) を使うことによって、信頼性の高い正確な測定を実現します。
製造や研究の分野において、Micro.View は高い精度で設計された表面を測定するためのコストパフォーマンスに優れた品質を管理するための測定器です。
Precision measurement is about experience, about expertise and about experts and technology we trust in. Take a look behind the scenes, learn more about the development and about the people behind TopMap and meet the PolyXperts. Come join our journey!
関連商品
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View +は、モジュール式設計のあらたな次元の光学式三次元形状測定器あり、表面仕上げと微細構造に関する最も困難な分析タスクを最高の精度で確実に測定します。最新のフォーカスファインダおよびフォーカストラッカを備えており、あらゆる状況で表面にフォーカスを合わせます。完全に電動化されたサンプル位置決めステージにより、スティッチングおよび自動化を実現します。
TopMap Pro.Surf+
最新のオールインワンシステム。白色光干渉計にクロマティック共焦点センサを搭載することにより、形状偏差と粗さを一つのシステムによって測定できます。Pro.Surf+は広範な面積の表面形状のナノメートル分解能測定を実現します。
TMS Software
ポリテックの白色干渉計システム TMS 表面形状計測システムの 専用ソフトウェア TMS software の 最新バージョンは、より簡単に、よりスピーディに測定結果を評価できるようになりました。
QCオペレータインタフェイス
特に、似かよった製品を多数製造する場合には、複数のレシピが必要ですが、QCオペレータインタフェイスは、個々のレシピはもちろん、同じサンプルでも異なるタイプのサンプルのレシピもひとつひとつ管理することができるため、とても便利です。
TopMap QC パッケージ
品質管理（QC）用のまったく新しいスマート機能パッケージが、TopMap 光学式三次元形状計測器シリーズで利用できるようになりました。TopMap QCパッケージは、特に厳しい生産環境での表面検査をサポートしています。
計測/レンタルサービス
ポリテックでは、最先端の測定機器をレンタルしています。レンタルサービスにより、信頼性の高い非接触振動測定を迅速に実施できます。また、特に頻繁に行わない測定については、所有コストを削減することができます。経験豊富なエンジニアが、お客様の現場での試験セットアップのコンサルティングを含め、必要なすべての段階でお客様をサポートします。
また、ポリテックでは、ビデオ会議システムを導入しており、オンラインでの各種サービスをスタートしています。