El sistema más flexible y asequible para el perfilado 3D con una precisión inferior al nanómetro
Con un rango Z ampliado de 100 mm y la Tecnología de escaneo continuo « CST », el Micro.View® mide (micro)topografías complejas con una resolución de nm. Este práctico sistema de sobremesa cuenta con electrónica integrada y el avanzado software « Focus Finder », que simplifica y agiliza el procedimiento de medición.
- Análisis fiable de la rugosidad de superficie con una precisión inferior al nanómetro en diversos materiales gracias a Smart Scanning Technology
- el campo de visión (FoV) más amplio y variable para un análisis flexible de la rugosidad (desde 0,07 x 0,05 mm hasta 13,2 x 9,8 mm)
- True Stitching para una precisión inigualable en piezas más anchas
- Amplio rango de medición en el eje Z de 100 mm con resolución completa gracias a la Tecnología de escaneo continuo
- Medición basada en recetas para operaciones repetitivas
- Cumple con las normas más recientes, como ISO 25178, ISO 21920 y otras
Micro.View Se especializa en el análisis de rugosidad y textura en alta resolución, ya sea mediante el perfilado clásico «lineal» (Ra, Rz,...) o mediante el análisis de superficie (Sa, Sq,..). Para aplicaciones con mayores requisitos de automatización, mediciones en serie o secuencias de trabajo independientes del operario, recomendamos Micro.View+ con un revólver motorizado, Focus Tracker, y funciones avanzadas de automatización.
Análisis sencillo de perfiles en 3D de prácticamente cualquier material, desde la rugosidad de superficie detallada hasta la forma y la microestructura
Destaca donde otros tienen dificultades
Muchos perfilómetros ópticos convencionales tienen dificultades con materiales muy reflectantes, oscuros, de bajo contraste o transparentes. El Micro.View supera este problema gracias a la tecnología de correlograma integrada, que permite realizar múltiples escaneos con diferentes intensidades de luz. Esto permite obtener mediciones fiables incluso en materiales complejos.
El resultado: datos 3D precisos sobre topografía, rugosidad de superficie, microestructuras, alturas de escalón y planicidad, incluso en las superficies más difíciles. Una de las razones principales por las que los clientes se pasan a Polytec es nuestra capacidad para medir superficies pulidas o con acabado de espejo, donde otros sistemas fallan.
Precisión basada en la experiencia
Gracias a décadas de experiencia, nuestros ingenieros han combinado la evaluación de fases y la envolvente del correlograma con un ruido del sistema intrínsecamente bajo y nuestra tecnología opcional de compensación ambiental (ECT). Esto da como resultado una resolución vertical subnanométrica y una Claridad de datos 3D excepcional.
Además, gracias a nuestra True Stitching, que utiliza algoritmos avanzados (IA), nuestros sistemas y software ofrecen una precisión inigualable con muestras más amplias.
Este nivel de precisión permite a los ingenieros verificar tolerancias estrictas, optimizar la producción y garantizar la fiabilidad a largo plazo.
Aprovechamiento de todo el Rango Z
Gracias a la tecnología de escaneo continuo (CST), el Micro.View aprovecha todo el rango de desplazamiento de 100 mm como Rango Z útil, independientemente del objetivo seleccionado. Esto garantiza una resolución estable en piezas altas y elimina la necesidad de reposicionarlas.
Las diferentes opciones de soportes permiten además trabajar con muestras más grandes o más altas, lo que permite una configuración flexible, desde pequeñas piezas de investigación hasta grandes componentes industriales.
Elige con confianza el perfilómetro de superficies adecuado: aprovecha las ventajas de nuestro enfoque «Try before buy ».
Ejemplos de medición de la rugosidad de superficie en 3D con los perfilómetros « Micro.View »
A continuación se muestran algunos resultados reales obtenidos en tareas habituales, como la medición de la rugosidad de superficie (Ra, Rz, Sa, Sq, etc.) y de parámetros de forma, en materiales de ingeniería comunes. Estos ejemplos han sido recopilados por nuestros centros de aplicación, que realizan estudios de viabilidad y ofrecen servicios de medición por encargo.
Elige con total confianza el perfilómetro de superficies adecuado: consulta a nuestros expertos en metrología.
Amplio conjunto de funciones para la rugosidad de superficie, tanto en laboratorio como en producción
Con un rango Z ampliado de 100 mm y la Tecnología de escaneo continuo « CST », el Micro.View mide topografías complejas con una resolución de nm. Esta práctica configuración de sobremesa cuenta con electrónica integrada, y el avanzado software « Focus Finder » simplifica y agiliza el procedimiento de medición.
True Stitching - Mayor precisión para muestras más amplias
Dado que las superficies más grandes superan el Campo de visión de una sola toma, el ensamblaje fusiona los mosaicos en un único conjunto de datos preciso. La calidad metrológica de estas mediciones de gran superficie depende de la óptica y la tecnología de detección, del número de mosaicos y de los algoritmos de ensamblaje.
True Stitching Ofrece mediciones de gran superficie de alta fidelidad al minimizar los artefactos de unión y preservar la geometría.
Una evaluación comparativa independiente realizada en una prestigiosa universidad técnica alemana comparó seis perfilómetros ópticos de distintos fabricantes, y el perfilómetro Polytec demostró la máxima calidad tanto en el ensamblaje como en la medición. Esto se consigue gracias a diversas características, tales como:
- Amplio campo de visión (FoV) en una sola toma → menos mosaicos y uniones, menor error acumulativo
- Sofisticados algoritmos de unión → solapamiento controlado, registro robusto y fusión metrológicamente precisa que conserva los escalones y los bordes
El resultado es una topografía de gran superficie y alta fidelidad, con menos artefactos y residuos aptos para auditorías: lo que denominamos « True Stitching ».
Ensayo de rugosidad de superficie a escala subnanométrica con un amplio campo de visión
Campo de visión más amplio: hasta 13,2 x 9,8 mm
La nueva y exclusiva lente de 0,6x amplía literalmente su campo de visión: Micro.View permite analizar la rugosidad de superficie, la textura o las microestructuras en alta resolución utilizando los aumentos clásicos de 20x a 111x. Con un solo clic y el cambio automático a la lente de 0,6x, se consigue una transición fluida a mediciones de forma o de planicidad en áreas extensas. Examine microestructuras a gran escala sin necesidad de unir imágenes. Descubre todos los detalles estructurales sin perder de vista los parámetros de forma, el alabeo o los desniveles en grandes superficies.
CSI: interferometría de barrido de coherencia para una precisión máxima.
Micro.View Se basa en la tecnología CSI (también conocida como Interferometría de luz blanca), el estándar del sector para la tecnología de medición de superficies sin contacto y de área amplia. Escanea verticalmente una fuente de luz de banda ancha y analiza el Patrón de interferencia.
- Evaluación de la envolvente: robusta en superficies rugosas y de bajo contraste
- Evaluación de fases: resolución subnanométrica en muestras lisas y de planicidad alta
- Análisis de correlograma: aprovechamiento completo del Patrón de interferencia para obtener la máxima robustez y precisión
Esto permite medir tanto ópticas pulidas como piezas técnicas con rugosidad con el mismo sistema.
CST – Rango Z completo de 100 mm sin perder resolución.
La tecnología de escaneo continuo (CST) transforma todo el rango de desplazamiento de 100 mm en un Rango Z útil con una resolución constante, independientemente de la lente.
- Admite muestras grandes y altas sin necesidad de reposicionarlas
- Mantiene la precisión de medición en todo el rango de medición
- Reduce el esfuerzo de configuración y evita la necesidad de unir imágenes o reenfocar
ECT – Datos de superficie 3D fiables en el taller.
El ruido, las vibraciones y las fluctuaciones de temperatura pueden afectar a las mediciones. Nuestra tecnología de compensación ambiental (ECT) compensa estas perturbaciones y garantiza la coherencia de los datos, incluso en el taller.
- Mejora la fiabilidad en entornos ruidosos o inestables
- Permite la automatización y el control de calidad en línea sin necesidad de un aislamiento total
- Resulta especialmente útil para componentes sensibles (por ejemplo, MEMS, capas finas)
Focus Finder y gestión de recetas para obtener mediciones rápidas y fiables
Un enfoque preciso es fundamental para la tecnología de medición de superficies. Gracias a la función « Focus Finder » incorporada, el sistema detecta automáticamente el punto de enfoque óptimo para reducir el tiempo de configuración y permite realizar mediciones fiables según las recetas de medición.
Gracias a la gestión de recetas, fácil de usar y seleccionar, y al lector de códigos de barras opcional, las mediciones se pueden seleccionar y ejecutar de forma sencilla y reproducible.
ECT y CST
Compensación ambiental y Tecnología de escaneo continuo para facilitar las mediciones y permitir que se realicen de forma autónoma
Smart Scanning Technology
SST permite medir superficies reflectantes o mates
torreta de 5 lentes
Cambio rápido de lentes para diferentes tareas de metrología y componentes
100 mm de recorrido en el eje Z (Ra) (y más)
Rango Z de 100 mm (equivalente al rango de medición) con Tecnología de escaneo continuo (CST).
Configuración modular y especificaciones para el perfilado 3D
| Z Range | 100 mm (posicionamiento y medición) |
| Resolución vertical | 0,01 nm |
| Precisión de repetición del valor cuadrático medio (RMS) | 0,05 nm |
| SaReflectividad simple | 0,05 a 100 % |
| Puntos de medición píxeles X-Y | 1 352 000 (píxeles efectivos) 1 352 x 1 000 |
| Velocidad de medición | 100 µm/s |
| Parámetros ISO | ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920 |
¿Comprobación de viabilidad?
Envíanos tu muestra y realizaremos un estudio de viabilidad con nuestro perfilómetro y analizaremos contigo los resultados.
Esto le permitirá conocer con precisión el rendimiento del perfilómetro óptico con sus muestras reales.
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Empecemos con una breve charla sobre sus piezas, tolerancias y flujo de trabajo; y, si resulta útil, podemos añadir un estudio de viabilidad, un servicio de mediciones por encargo ( PolyMeasure ) o una prueba de PolyRent como siguientes pasos opcionales.
