Optische Schichtdickenmessung mit Polytec

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Ob die Beschichtung auf einem Substrat mehrere Millimeter oder nur wenige Mikrometer dick ist – die Weißlicht-Interferometer der TopMap-Messgeräteserie von Polytec analysieren die Schichtdicke berührungslos und damit absolut zerstörungsfrei. Die  Schichtdickenmessungen bestimmen mehrere Beschichtungen schnell, präzise und flächenhaft. Mit der innovativen Smart-Surface-Scanning-Technologie spielt es keine Rolle, ob das Werkstück unterschiedlich reflektiert beziehungsweise stark spiegelt und dabei verschiedene Neigungswinkel aufweist. Die Software ermittelt automatisch die optimale Belichtungszeit und verwendet sie für jedes Pixel. 

Flexibel und einfach Schichtdicken und andere Parameter bestimmen

Die Polytec TopMap Familie überprüft die Schichtdicke flächenhaft mit hoher Genauigkeit und ermöglicht sowohl permanente als auch stichprobenartige Prozessüberwachungen, auch in automatisierten Abläufen. Die Messdatenauswertung basiert auf rückführbaren Standards nach DIN ISO 25178. Polytec bietet außerdem neben schlüsselfertigen 3D-Oberflächenmesssystemen auch kundenspezifische Anpassungen für Hardware, Software und Optik an. Sprechen Sie uns einfach an, wir beraten Sie gern!

TopMap Pro.Surf

Das High-End-Messsystem TopMap Pro.Surf vermisst Ihre präzisionsgefertigten Oberflächen zuverlässig, hochgenau und großflächig. Mit seiner hohen vertikalen und auch lateralen Auflösung erfasst es komplette Topografien mit einer einzigen Messung und vermeidet so Stitching. Die telezentrische Optik ist in der Lage, selbst schwer erreichbare Stellen zu erfassen. 



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TopMap µ.Lab

Das Mikroskopsystem TopMap µ.Lab charakterisiert Ihre Präzisionsoberflächen und Mikrostrukturen zerstörungsfrei und mit einer vertikalen und lateralen Auflösung im Nanometerbereich. Die vertikale Auflösung ist dabei unabhängig von der Bildfeldgröße. Das 3D-Profilometer ermittelt die Schichtdicke und macht feinste Oberflächendefekte sichtbar mit Höhenprofilen. Für verschiedene Arbeitsabstände oder zur Glaskompensation stehen Ihnen verschiedene Objektive zur Verfügung. Auf Wunsch entwickeln wir auch anwendungsspezifische  Komponente für Ihre ganz individuellen Messbedürfnisse.

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Weitere Oberflächenparameter