Optische Schichtdickenmessung mit Polytec

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Wo immer die Schichtdicke bestimmt werden soll, im Labor oder durch Atline- oder Inline-Messungen, die Messtechnologien von Polytec für die Schichtdickenmessung analysieren berührungslos und damit absolut zerstörungsfrei. Die Einsatzgebiete und Anwendungsmöglichkeiten für Schichtdickenmessungen sind so vielfältig wie das Angebot an Messlösungen bei Polytec. Daher sind die optischen Messsysteme auch in zahlreichen Branchen im Einsatz, wie beispielsweise Automotive, Elektronik, Maschinenbau, Halbleiterindustrie, Forschung und Entwicklung. 

Das optimale Messgerät für jede Schichtdicke

Die Wahl des optimalen Gerätes für die Schichtdickenmessung hängt von vielen Faktoren ab. Zunächst spielen die Materialien der Substrate und Beschichtungen eine wesentliche Rolle. Je nach Oberflächenbeschaffenheit und Art der Schichten setzen Anwender spezifische Messlösungen für die Bestimmung der Schichtdicke ein. Handelt es sich um eine nasse oder trockene Lackierung, eine Pulverbeschichtung, sind Folien angebracht? Sind die Schichten transparent oder undurchsichtig? Auch die Anforderungen an die Messaufgabe fallen unterschiedlich aus je nach Anwendung, beispielsweise ob punktförmig oder flächenhaft gemessen werden soll.

Wir finden Ihre Lösung

Polytec bietet eine große Auswahl an optischen Messsystemen für die Schichtdickenmessung und deckt mit seinen eigenen Produktentwicklungen und als Distributor von weltweiten Top-Herstellern die allermeisten Kundenanforderungen ab.
Hier eine kleine Auswahl aus dem umfangreichen Polytec Portfolio an Messsystemen zur Bestimmung der Schichtdicke. Wir stehen Ihnen bei Ihrem Entscheidungsprozess jederzeit mit Rat und Tat zur Seite, sprechen Sie uns einfach an!

Schichtdickenmessung mit Enovasense

Mit dem fotothermischen Messverfahren des französischen Herstellers Enovasense bestimmen Sie Ihre Schichtdicke im Labor, in industriellen Inline-Anwendungen und 100%-Qualitätskontrollen extrem schnell und auf fast allen Substratmaterialien. Der kompakte Messkopf bestimmt die Schichtdicke auch an unzugänglichen Stellen. Die berührungs- und zerstörungsfreie Messtechnik vermisst zudem opake, semitransparente oder transparente Schichten, und der variable Arbeitsabstand von 5 bis 20 cm passt sich flexibel Ihren Bedürfnissen an.

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TopMap µ.Lab

Das Mikroskopsystem TopMap µ.Lab charakterisiert Ihre Präzisionsoberflächen und Mikrostrukturen zerstörungsfrei und mit einer vertikalen und lateralen Auflösung im Nanometerbereich. Die vertikale Auflösung ist dabei unabhängig von der Bildfeldgröße. Das 3D-Profilometer ermittelt die Schichtdicke und macht feinste Oberflächendefekte sichtbar mit Höhenprofilen. Für verschiedene Arbeitsabstände oder zur Glaskompensation stehen Ihnen verschiedene Objektive zur Verfügung. Auf Wunsch entwickeln wir auch anwendungsspezifische  Komponente für Ihre ganz individuellen Messbedürfnisse.

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TopMap Pro.Surf

Das High-End-Messsystem TopMap Pro.Surf vermisst Ihre präzisionsgefertigten Oberflächen zuverlässig, hochgenau und großflächig. Mit seiner hohen vertikalen und auch lateralen Auflösung erfasst es komplette Topografien mit einer einzigen Messung und vermeidet so Stitching. Die telezentrische Optik ist in der Lage, selbst schwer erreichbare Stellen zu erfassen. 

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Schichtdickenmessung mit dem Polytec PSS

Polytec entwickelte sein PSS Schichtdickenmesssystem für den Dauereinsatz direkt in Ihrem Produktionsprozess. Hier setzen sie Hersteller von Bahnwaren ein, um die Schichtdicke von transparente Schichten punkthaft und vollautomatisiert zu bestimmen. Die Messtechnologie beruht auf der Kombination der Reflektometrie mit der Weißlichtinterferometrie und vermisst Schichtdicken von 500 nm bis 80 µm.

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Schichtdickenmessung mit K-Mac

Die optischen Schichtdicken-Messsysteme von K-Mac finden insbesondere in der Halbleiterindustrie sowie in der Display- und Leiterplattenproduktion Anwendung. Diese Geräte zur Schichtdickenmessung charakterisieren Ihre transparenten Schichten von 100 nm bis 50 µm in einem Wellenlängenbereich von 420 bis 640 nm. Die zerstörungsfrei messenden Reflektometer bzw. Weißlichtinterferometer sind flexibel einsetzbar sowohl im Labor, atline oder vollautomatisiert. 

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Schichtdickenmessung mit Fiberpro

Speziell für die Bestimmung der Dicke von Wafern, Glas und anderen transparenten Materialien entwickelte Fiberpro seine hochgenauen und prozesstauglichen Messgeräte. Damit bestimmen Sie Schichtdicken von 50 µm bis 2 mm in Ihrem Messlabor mit Highspeed, hochgenau und zerstörungsfrei. Außerdem entfällt eine zeit-, personal- und kostenintensive Wartung, da die Systeme dauerhaft kalibrierungsfrei laufen. 

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