Messtechnik zur Schichtcharakterisierung
Wo immer die Schichtdicke bestimmt werden soll, im Labor oder durch Atline- oder Inline-Messungen, die Messtechnologien von Polytec für die Schichtdickenmessung analysieren berührungslos und damit absolut zerstörungsfrei. Die Einsatzgebiete und Anwendungsmöglichkeiten für Schichtdickenmessungen sind so vielfältig wie das Angebot an Messlösungen bei Polytec. Daher sind die optischen Messsysteme auch in zahlreichen Branchen im Einsatz, wie beispielsweise Automotive, Elektronik, Maschinenbau, Halbleiterindustrie, Forschung und Entwicklung.
Produktauswahl
Fotothermische Messsysteme
Das Enovasense-System misst die Dicke von opaken oder transparenten Beschichtungen extrem schnell im Labor und in Inline-Anwendungen auf fast allen Substraten. Der kompakte Messkopf eignet sich für beengte Platzverhältnisse.
Terahertz-Dickenmesssysteme
Terahertz-Dickenmessung – schnell, berührungslos, zerstörungsfrei, ideal für Mehrschichtmaterialien in industriellen Anwendungen und zur Qualitätskontrolle von Prozessen.
Hyperspektrale Bildgebungs-Messsysteme
Diese Systeme nutzen eine einzigartige Kombination aus optischer Spektroskopie und Bildgebung für eine präzise Oberflächenanalyse. Je nach Materialeigenschaften können Schichtdicken in einem beeindruckenden Bereich von 1 nm bis 500 µm zerstörungsfrei gemessen werden.
