Schichtdickenbestimmung mit Hako-L-System

Präzise Eloxal-Schichtdickenbestimmung

Beschichtungen von Materialien haben viele Funktionen. Oft ist eine Messung ihrer Dicke oder Gleichmäßigkeit – vor allem an kritischen Stellen – bei der Qualitätskontrolle unerlässlich. Systeme, die auf dem fotothermischen Messverfahren basieren, erschließen hier praxisgerechte Möglichkeiten, da sie sich für fast alle in- oder halbtransparenten Schichten auf allen gängigen Substraten eignen. Besonders einfach lassen sich jetzt eloxierte Oberflächen prüfen. 

Die HAKO-Messstationen von Enovasense, die Polytec jetzt im Programm hat, werden ab Werk mit der entsprechenden Kalibrierung geliefert. Der Anwender kann sofort messen und muss selbst bei einem Produktwechsel kein unbeschichtetes Teil referenzieren. Sowohl in industriellen Anwendungen als auch im Laborbereich spart das Arbeitszeit.

Qualitätskontrolle und Prozessoptimierung

Die fotothermischen Messsysteme arbeiten ohne jeglichen Kontakt zum Objekt. Mittels Laser und Infrarotsensoren wird die Beschichtung beliebig geformter Objekte mit Krümmungsradien von >= 1 mm aus Arbeitsabständen von 20 bis 40 mm mit einer Wiederholgenauigkeit von typischerweise +/-1 µm bzw. +/- 3% vom Messwert vermessen. Angeboten wird das Messverfahren entweder als By-the-Line- oder Labor-Kontrollstation in zwei Baugrößen (HAKO-L und HAKO-S), kann bei Bedarf aber auch direkt in die Produktionslinie integriert werden. Das größere HAKO-L System ist mit einem 3-Achs-System ausgerüstet. Damit lassen sich komplexe Teile auf ihrer gesamten Oberfläche zur erweiterten Analyse scannen. Das ermöglicht eine schnelle und eindeutige Rückmeldung über die Aufteilung und Homogenität der Eloxal-Schicht zur Qualitätskontrolle oder für Prozessoptimierung.

Bild: Das fotothermische Messverfahren zur Prüfung der Eloxal-Schicht wird als By-the-Line- oder Labor-Kontrollstation angeboten, lässt sich bei Bedarf aber auch direkt in die Produktionslinie integrieren. (Urheber Polytec)