Telezentrische Messtechnik für die großflächige Form- und Ebenheitsprüfung in der Produktion
Pro.Surf ist ein telezentrisches Macro-Profilometer für die Form- und Ebenheitsmessung über große Sichtfelder – überall dort, wo mikroskopbasierte Profiler hinsichtlich Messfeldgröße oder Durchsatz an ihre Grenzen stoßen. Er unterstützt die schnelle, berührungslose Prüfung von:
- Ebenheit und Formabweichung
- Trays und Prüfung von Mehrfachproben
- Bohrungen, Stufen und Vertiefungen
- in Produktions- und Laborumgebungen
Das große Single-Shot-Sichtfeld, der vertikale Messbereich von 70 mm sowie die True-Stitching-Technologie ermöglichen effiziente und hochgenaue Messungen von Ebenheit, Form und Stufenhöhen – bei minimalem Einrichtungsaufwand.
Benötigen Sie Form- und Rauheitsmessungen in einer Station? Werfen Sie einen Blick auf unser Pro.Surf+.
Macro-Profilometer für Ebenheit und Form mit hoher Messgeschwindigkeit und Wiederholgenauigkeit
Großflächige Messungen mit hohem Durchsatz
Mit einem 44 × 33 mm großen Einzel-Sichtfeld (FoV) erfasst Pro.Surf bis zu 2 Millionen Messpunkte in einer einzigen Aufnahme. True Stitching erweitert die XY-Abdeckung auf ~230 × 220 mm und ermöglicht so die Bearbeitung auch großer Proben.
Ideal für schnelle Ebenheits- und Stufenhöhenmessungen an großen Bauteilen – unabhängig davon, ob es sich um Einzelteile, Trays oder Mehrfachproben handelt.
Tiefe Löcher und große Stufen messen
Die telezentrische Optik in Kombination mit ihrem 70 mm großen z-Messbereich ermöglicht es Pro.Surf, das Innere tiefer Löcher oder vertiefter Bereiche zu vermessen und dabei einen sicheren Abstand zu den Proben einzuhalten, ohne dass die Gefahr einer Kollision besteht.
Dies ermöglicht präzise Messungen an hohen Bauteilen mit großen Stufen oder tiefen Bohrungen – etwa an Einspritzkomponenten oder Ventilsitzen – wo andere optische Profiler an ihre geometrischen Grenzen stoßen.
Hohe Messgenauigkeit mit reproduzierbaren Ergebnissen
Großer vertikaler Scanbereich von 70 mm mit einer vertikalen Auflösung von <1,45 nm und einem geringen Messrauschen von <0,5 nm gewährleisten höchste Wiederholgenauigkeit bei der Messung von Oberflächenformparametern.
Die patentierte ECT-Umgebungskompensationstechnologie verhindert Fehlalarme in typischen Produktionsumgebungen, indem sie Maschinenvibrationen und Einflüsse in der Maschinenhalle kompensiert.
Der Pro.Surf liefert Oberflächenmessdaten mit höchster Zuverlässigkeit und Reproduzierbarkeit – maßgeschneidert für die Fertigung und Qualitätskontrolle.
Hoher Durchsatz und Rückverfolgbarkeit
TopMap bietet Messrezepte für Routinemessungen. Laden Sie vordefinierte Einstellungen mit einem integrierten Carcode-Scanner und erkennen Sie Probenmuster automatisch, ohne dass eine mechanische Befestigung auf dem großen Sichtfeld erforderlich ist. Verwenden Sie ISO-konforme und reproduzierbare Messungen als Ein-Klick-Lösungen.
Die Auswertungen entsprechen den DIN/ISO-Normen (z. B. ISO 25178, ISO 4287/4288) und visualisieren die Ergebnisse schnell gemäß Ihren festgelegten Toleranzen für eine klare Pass/Fail-Analyse. Erstellen und teilen Sie Berichte schnell oder exportieren Sie sie für SPC in QS-STAT™ – für mehr Effizienz, Wiederholbarkeit und Rückverfolgbarkeit im Labor und in der Produktion.
Überzeugen Sie sich vor dem Kauf von der Leistung eines Profilers – nutzen Sie unseren „Try before buy“ Ansatz.
Beispiele für Messungen mit großem Sichtfeld
Nachfolgend finden Sie einige reale Ergebnisse aus Standardaufgaben mit gängigen technischen Werkstoffen. Diese Beispiele wurden von unseren Anwendungszentren zusammengestellt, die Machbarkeitsstudien durchführen und vertragliche Messdienstleistungen anbieten.
Wählen Sie mit Zuversicht den passenden Oberflächenprofiler – lassen Sie sich die Leistungsfähigkeit unserer Systeme live demonstrieren.
Integrierte Funktionen unterstützen hochpräzise und effiziente Arbeitsabläufe – selbst in rauen Umgebungen.
Erhalten Sie ein breites Sichtfeld von bis zu 44 × 33 mm (durch Stitching auf ~230 × 220 mm erweiterbar), automatisierungsfähigen Betrieb mit motorisierten Tischen, Rezeptursteuerung und Barcode-Start sowie telezentrische WLI/CSI und einen Z-Bereich von 70 mm für vertikale Leistung im Nanometerbereich.
WLI mit telezentrischer Optik
→ Gewährleistet präzise Geometrie - selbst in Bohrungen
Das rückverfolgbar kalibrierte WLI/CSI liefert berührungslose, flächige 3D-Daten mit einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Der telezentrische optische Ansatz hält die Strahlen parallel zur optischen Achse und sorgt so für eine konstante Vergrößerung und gleichmäßige Ausleuchtung über die gesamte Höhe – sogar Messungen in Bohrlöchern sind möglich.
- Berührungslose, wiederholbare, schnelle Flächenscans
- Phasen-/Hüllkurvenauswertung für glatte und raue Oberflächen
- Intelligentes Oberflächen-/adaptives Scannen für unterschiedliche Reflektivitäten
- Langlebige 525-nm-LED
True Stitching – Höhere Genauigkeit für breitere Muster
→ True Stitching liefert unübertroffene Präzision beim Scannen großer Flächen
Da größere Oberflächen das Sichtfeld eines einzelnen Aufnahmegeräts überschreiten, werden die einzelnen Kacheln zu einem präzisen Datensatz zusammengefügt. Die messtechnische Qualität solcher großflächigen Messungen hängt von der Optik und der Sensortechnologie, der Anzahl der Kacheln und den Stitching-Algorithmen ab.
True Stitching liefert hochpräzise großflächige Messungen, indem es Stitching-Artefakte minimiert und die Geometrie beibehält.
Ein unabhängiger Vergleichstest an einer führenden deutschen technischen Universität untersuchte sechs optische Profilometer verschiedener Hersteller. Dabei zeigte das Polytec Profilometer die höchste Stitching- und Messqualität.
- Großes Single-Shot-Sichtfeld → weniger Kacheln und Nähte, weniger kumulativer Fehler
- Ausgefeilte Stitching-Algorithmen → kontrollierte Überlappung, robuste Registrierung und messtechnisch sichere Überblendung, die Stufen und Kanten beibehält
- Für Pro.Surf: Telezentrische/CSI-Optik mit Korrelogramm-Auswertung → stabile Geometrie und Höhenwiedergabe über alle Kacheln hinweg
Das Ergebnis ist eine hochpräzise, großflächige Topografie mit weniger Artefakten und auditfähigen Restwerten – was wir als „True Stitching” bezeichnen.
Optik mit großem Sichtfeld (FoV)
→ Reduziert die Messzeit bei Komponenten und Fehler beim Stitching
Pro.Surf bietet ein breites Single-Shot-Sichtfeld von bis zu 44,9 × 33,8 mm (mit ~1,91 Millionen Punkten), sodass breitere Proben oder mehrere Teile in einer einzigen Erfassung gemessen werden können. Mit der integrierten Stitching-Funktion erweitert sich die Abdeckung auf bis zu ~228 × 221 mm und durch das große FoV reduziert sich die Anzahl der Shots pro Stitching-Prozess (schnellere und stabilere Messung).
- Mehrere Proben gleichzeitig messen; automatische Probenerkennung verfügbar
- Kurze Zykluszeiten; reduzierter Aufwand, weniger Fehler beim Stitching
ECT – Environmental Compensation Technology
→ Stabilisiert die Ergebnisse in der Fertigung
Lärm, Vibrationen und Temperaturschwankungen können Messungen beeinträchtigen. ECT gleicht solche Störungen aus und sorgt für konsistente Daten – auch in der Fertigungsumgebung.
- Verbessert die Zuverlässigkeit in lauten oder instabilen Umgebungen
- Ermöglicht Automatisierung und Inline-Qualitätskontrolle ohne vollständige Isolierung
- Besonders hilfreich für empfindliche Komponenten (z. B. Präzisionsbauteile, MEMS, ...)
Automatisierbare Messung für höheren Durchsatz und Wiederholgenauigkeit
→ Ermöglicht unbeaufsichtigte, wiederholbare Messungen
Dank seines modularen Aufbaus und seiner Motorisierungsoptionen lässt sich das Profilometer Pro.Surf leicht automatisieren und in bestehende Prozesse und Maschinen integrieren. Eine Reihe von Funktionen und Fähigkeiten ermöglicht hocheffiziente und unbeaufsichtigte Messabläufe:
- Pattern Matching und Smart Scanning Technology für Erkennung von Bauteilen
- Motorisierte X-, Y-, Z- und Neigungs-/Kipptische
- Großes Sichtfeld und True Stitching für hochauflösende Scans über große Flächen
- Rezepte-Management in der TopMap Software ermöglichen das Abstreichern und Aufrufen von Messabläufen
- Robustes Design mit wenig bis keine bewegliche Teile und
- Kompensation durch ECT von Vibrationen und Temperatur-Effekten
"Pattern Matching" - Erkennung von Bauteilen
Maschinelles Bildverarbeitungsprogramm, das Teile anhand einer Vorlage findet und registriert, sodass die Rezepte an den richtigen Stellen angewendet werden (auch wenn Teile verschoben oder gedreht sind). Ideal für Tabletts und Mehrfachprobenläufe; lässt sich gut mit der automatischen Probenerkennung kombinieren, um den Befestigungsaufwand zu reduzieren.
Smart Scan-Technologie zur Erfassung unterschiedlicher Oberflächen
Erfassungsmodus, der sich an unterschiedliche Reflektivität/Kontraste anpasst, sodass Sie fast jede Oberfläche zuverlässig in einer einzigen Konfiguration messen können; enthalten in der TopMap Software.
Telezentrische Optik
Parallele Strahlen zur optischen Achse für konstante Vergrößerung – ermöglicht Messungen in Randbereichen und Bohrungen.
Automatisierung mit Rezepten
Probenerkennung und Musterabgleich für Tablett-Scans; Barcode-Start mit automatischer Protokollierung der Proben-/Rezept-ID
Großes Sichtfeld (FoV)
Einzelaufnahme-Sichtfeld bis zu 44,9 × 33,8 mm (1,91 Mpts). Die integrierte Stitching-Funktion erweitert die Abdeckung auf ~228 × 221 mm für Trays und größere Komponenten.
Großes Probenvolumen
Positionierungsvolumen bis zu 200 × 200 × 70 mm. Motorisierte XY- und Neigungs-/Kippoptionen
Modularer Aufbau, Spezifikationen und Optionen
| Schmaler Fokus | Großer Fokus | |
| Positionierungsvolumen | 200 x 200 x 70 mm³ = 0,028 m | |
| Max. Anzahl von Punkten in einer einzelnen Messung | X: 1592, Y: 1200, | |
| Vertikaler Bereich | 70 mm | |
| Messbereich | X: 22,8 mm Y: 17,2 mm X·Y: 392,2 mm² | X: 44,9 mm Y: 33,8 mm X·Y: 1517,6 mm² |
| Messpunktabstand | X: 14,3 µm Y: 14,3 µm | X: 28,2 µm Y: 28,2 µm |
| Berechnete laterale optische Auflösung | 8,4 µm | 16 µm |
| Messrauschen | < 0,5 nm (Phasenauswertung, glatte Oberflächen) | |
| Vertikale Auflösung | < 1,45 nm (Phasenauswertung, glatte Oberflächen) | |
| Rauheitsmessbereich | (nur in Pro.Surf+) | |
| Lateralauflösung der Rauheit | (nur in Pro.Surf+) | |
| Typische Rauheitsmessung | (nur in Pro.Surf+) | |
Weitere Einzelheiten und Details finden Sie im Datenblatt (siehe Abschnitt „Download“ unten).
Machbarkeitsprüfung?
Senden Sie uns Ihr Muster zu, und wir führen mit unserem Profiler eine Machbarkeitsstudie durch und gehen die Ergebnisse mit Ihnen durch.
So erhalten Sie ein genaues Verständnis der Leistung des optischen Profilers an Ihren tatsächlichen Proben.
Verwandte Informationen und Downloads
Ebenheit, Dicke und Parallelität
Kombinierte Messung von Ebenheit, Dicke und Parallelität in einem Messvorgang. Flächige Topografie von Ober- und Unterseite für präzise Form- und Lagetoleranzen.
Gut/Schlecht-Bewertung
Schnelle und objektive Gut/Schlecht-Bewertung auf Basis flächiger 3D-Messdaten. Automatisierte Workflows und hohe Z-Auflösung unterstützen reproduzierbare Entscheidungen und statistische Prozesskontrolle.
Try before buy
Vor dem Kauf 3D Messtechnik ausführlich bewerten: Finden Sie den richtigen Oberflächenprofiler mit "try before buy" von Polytec.
Downloads
Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten
Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.
