Ebenheit an Festplatten optisch messen

Die Oberflächenbeschaffenheit der Festplattenscheibe entscheidet mitunter über die verlässliche Speicherung und Abrufung von Dateien und Infos, für Rechenzentren wie für die tagtägliche private Nutzung. Polytec bietet Ihnen dafür die geeigneten Oberflächenmesssysteme, mit denen Sie vorgegebene Toleranzen einhalten, Defekte bereits an der Produktionslinie lokalisieren und somit schnell Oberflächenparameter auswerten. Dies alles erledigen die Modelle der TopMap-Familie berührungslos, schnell und individuell auf Ihre Anwendung optimierbar. TopMap optische Messtechnikgeräte umfassen auch Mikroskopsysteme, welche selbst kleinste Details erkennen, sowie großflächig messende Systeme mit unverändert hoher Höhenauflösung, um flächenhaft und effizient zu prüfen.

Ebenheit messen und Oberflächenebenheit auswerten in kostenloser Vorstudie?

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik