
Dear visitor, in order to be able to watch our videos please accept the cookies. All information about the usage of cookies can be found in our privacy policy
TopMap 表面形状測定:ハードウェア、光学部品、ソフトウェア&サービス
ポリテックは、CNC 加工された精密部品の平坦度や段差、平滑な光学部品の反りや形状、テクスチャや仕上げ、MEMS や微細構造解析など、設計された表面の品質検査や形状評価に最適な光学表面形状測定ソリューションを提供しています。
弊社は、アプリケーションサービスとノウハウ、4年間の保証、そして無償のソフトウェアアップデートにより、最も信頼性の高い白色光干渉計を製造しています。
驚異的に広い垂直レンジと高いZ分解能、そしてマルチサンプル測定も可能な非常に広い視野(FOV)が特長です。 大面積サンプルの高速スキャンや、サブナノメートルの分解能による徹底的なテクスチャーおよび粗さ解析が可能です。 TopMapプロファイラを無料でお試しください!
非接触 表面粗さ・形状測定機 TopMap シリーズ
生産管理などの厳しい環境、または研究室において、精密製品の表面粗さ・形状を測定する場合、白色干渉計を利用したポリテックの非接触表面粗さ・形状測定機 TopMap シリーズは、理想的なソリューションです。
関連製品
TopMap Metro.Lab
少ない予算でも、面積と形状の特徴づけから始める! TopMap Metro.Labは完全でコンパクトな表面試験ステーションであるため、光沢のある表面から粗い表面まで、信頼性と再現性の高い結果を得ることができ、大型ワークピースを迅速に検査することができます。
TopMap Pro.Surf
Pro.Surfは、表面形状用の高速でプロフェッショナルな3D測定ソリューションです: 200万点の測定ポイントを数秒で取り込み、細部まで確認できます。 Pro.Surfは、高速測定で困難な生産ワークフローに対応します。 33x44mmという非常に大きな視野は、大きなサンプルや複数のサンプルを一度に捉えることができます。 スティッチングは230x220 mmまで拡大され、70 mmの大きなZレンジがさらに柔軟性を提供します。
TopMap Pro.Surf+
このマルチセンサー形状測定システムは、Pro.Surfと同様、非常に大きな視野(最大230x220mm)で面形状と形状を測定します。 高速スキャニング、再現性の高い測定により、nm領域での形状・粗さ複合評価が可能です。
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View®は、コンパクトな卓上型の使いやすい光学式プロファイラです。 Micro.View®は、サブナノメートル領域まで精密に加工された表面の粗さ、微細構造、その他の表面の詳細を検査するための、費用対効果の高い検査ツールとしてお選びいただけます。 0.6倍から111倍までのカスタム対物レンズとステージオプションにより、用途に応じた微調整が可能です。
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+は、困難なワークのテクスチャ、表面仕上げ、微細構造をサブナノメートルの分解能で測定するためのモジュラーデザインの次世代光学式表面形状測定機です。 フォーカスファインダーとフォーカストラッカーは、100mmという非常に大きなZレンジに沿って、常にサンプルの焦点を合わせ続けることができます。 チャレンジしてください!