Perfilómetro de rugosidad preparado para la automatización con Color View
Micro.View+ amplía el Ensayo de rugosidad de superficie a secuencias de trabajo automatizadas e independientes del operario para la producción y el control de calidad. Este perfilómetro combina una precisión subnanométrica, un amplio rango Z de 100 mm y una motorización completa para ofrecer mediciones de rugosidad de superficie rápidas y repetibles, desde microelementos hasta componentes de mayor tamaño.
- Análisis fiable de la rugosidad de superficie con una precisión inferior al nanómetro en diversos materiales gracias a Smart Scanning Technology y Color View
- el campo de visión (FoV) más amplio y variable para un análisis flexible de la rugosidad (desde 0,07 mm hasta 15,5 x 11,7 mm)
- True Stitching para una precisión inigualable en piezas más anchas
- Amplio rango de medición en el eje Z de 100 mm con resolución completa gracias a la Tecnología de escaneo continuo (CST)
- Medición basada en recetas con Focus Finder para operaciones repetitivas
- Cumple con las normas más recientes (ISO 25178, ISO 21920 y otras)
- Secuencias de trabajo independientes del operario gracias a Focus Tracker ya las mesas motorizadas X, Y, Z, de inclinación y giro, así como al revólver motorizado
- Preparado para la automatización industrial gracias a su diseño modular y sus interfaces
Micro.View+ Es la mejor opción para aplicaciones con mayores requisitos de automatización, mediciones en serie o secuencias de trabajo independientes del operario. En caso de que no se requieran capacidades de automatización ni el sistema « Color View », el perfilador Micro.View podría ser otra alternativa interesante.
Análisis industrial de la rugosidad de prácticamente cualquier superficie, preparado para flujos de trabajo eficientes y automatizados
Destaca donde otros tienen dificultades
Muchos perfilómetros ópticos tienen dificultades con materiales muy reflectantes, oscuros, de bajo contraste o transparentes. El Micro.View supera este problema gracias a la tecnología de Correlograma integrada, que permite realizar múltiples escaneos con diferentes intensidades de luz. Esto permite obtener mediciones fiables incluso en materiales complejos.
El resultado: datos 3D precisos sobre topografía, rugosidad, microestructuras, alturas de escalón y planicidad, incluso en las superficies más difíciles. Una de las razones principales por las que los clientes se pasan a Polytec es nuestra capacidad para medir superficies pulidas o con acabado de espejo, donde otros sistemas fallan.
Precisión basada en la experiencia
Gracias a décadas de experiencia, nuestros ingenieros han combinado la evaluación de fases y la envolvente del correlograma con un ruido del sistema intrínsecamente bajo y nuestra tecnología opcional de compensación ambiental (ECT). Esto da como resultado una resolución vertical subnanométrica y una Claridad de datos 3D excepcional.
Además, gracias a nuestra True Stitching, que utiliza algoritmos avanzados (IA), nuestros sistemas y software ofrecen una precisión inigualable con muestras más amplias.
Este nivel de precisión permite a los ingenieros verificar tolerancias estrictas, optimizar la producción y garantizar la fiabilidad a largo plazo.
Aprovechamiento de todo el Rango Z
Gracias a la tecnología de escaneo continuo (CST), el Micro.View aprovecha todo el rango de desplazamiento de 100 mm como Rango Z útil, independientemente del objetivo seleccionado. Esto garantiza una resolución estable en piezas altas y elimina la necesidad de reposicionarlas.
Las diferentes opciones de soportes permiten además trabajar con muestras más grandes o más altas, lo que permite una configuración flexible, desde pequeñas piezas de investigación hasta grandes componentes industriales.
Fácil de medir, con una documentación sólida.
Micro.View Los sistemas están diseñados para facilitar su uso. Las herramientas « Focus Finder » y «QC recipe» simplifican la configuración, mientras que « CST » y « ECT » garantizan la estabilidad de los datos sin necesidad de ajustes constantes.
Micro.View+ Combina topografía 3D de alta resolución con imágenes en color para una visualización intuitiva de defectos o desgaste. Las herramientas de generación de informes integradas permiten crear documentación trazable para facilitar al máximo el trabajo de sus equipos de ingeniería, producción y calidad.
Plataforma para una automatización fiable
La línea modular « Micro.View+ » ofrece una plataforma con motorización completa (X, Y, Z, inclinación/giro), Focus Tracker y un revólver motorizado para el funcionamiento sin supervisión. Gracias a la gestión de recetas de Control de calidad, se pueden medir diferentes tipos de muestras con un Control de calidad independiente del operador y un esfuerzo manual mínimo.
En combinación con el sistema « ECT » y el aislamiento antivibraciones integrado, Micro.View+ permite alcanzar una precisión de laboratorio directamente en las líneas de producción, con un mayor rendimiento y una menor influencia del operador.
Elige con confianza el perfilómetro de superficies adecuado: aprovecha las ventajas de nuestro enfoque «Try before buy ».
Medición automatizada de superficies: desde la rugosidad de superficie hasta la tribología con alta precisión de repetición
A continuación se muestran algunos resultados reales obtenidos en tareas estándar (rugosidad, planicidad, altura de escalón, textura y Tribología) en materiales de ingeniería habituales. Estos ejemplos han sido recopilados por nuestros centros de aplicaciones, que realizan estudios de viabilidad y ofrecen servicios de medición por encargo.
Elige con total confianza el perfilómetro de superficies adecuado: consulta a nuestros expertos en metrología.
Perfilómetro de rugosidad y forma que ofrece la máxima precisión, con capacidades de automatización y Color View
Micro.View+ Ofrece amplias posibilidades de automatización de los flujos de trabajo y resulta muy eficaz para tareas repetitivas de metrología. Especialmente con el revólver motorizado y las plataformas opcionales, que además cuentan con la función de inclinación y giro. Algunas características clave:
True Stitching - Mayor precisión para muestras más amplias
Dado que las superficies más grandes superan el Campo de visión de una sola toma, el ensamblaje fusiona los mosaicos en un único conjunto de datos preciso. La calidad metrológica de estas mediciones de gran superficie depende de la óptica y la tecnología de detección, del número de mosaicos y de los algoritmos de ensamblaje.
True Stitching Ofrece mediciones de gran superficie de alta fidelidad al minimizar los artefactos de unión y preservar la geometría.
Una evaluación comparativa independiente realizada en una prestigiosa universidad técnica alemana comparó seis perfilómetros ópticos de distintos fabricantes, y el perfilómetro Polytec demostró la máxima calidad tanto en el ensamblaje como en la medición. Esto se consigue gracias a diversas características, tales como:
- Amplio campo de visión (FoV) en una sola toma → menos mosaicos y uniones, menor error acumulativo
- Sofisticados algoritmos de unión → solapamiento controlado, registro robusto y fusión metrológicamente precisa que conserva los escalones y los bordes
El resultado es una topografía de gran superficie y alta fidelidad, con menos artefactos y residuos aptos para auditorías: lo que denominamos « True Stitching ».
Focus Finder & Focus Tracker - Cada medición, siempre a la perfección.
Un enfoque preciso es fundamental para la tecnología de medición de superficies.
- Focus Finder (estándar): detecta automáticamente el punto de enfoque óptimo para reducir el tiempo de configuración
- Focus Tracker (Micro.View+): mantiene la superficie enfocada durante el movimiento; ideal para la unión de imágenes y la automatización
Esto garantiza un enfoque estable en todas las mediciones, incluso en superficies irregulares o en movimiento.
Color View para comprender mejor las características de la superficie
Opción de hardware para mejorar las mediciones en 3D con una imagen en color de la superficie.
- Identificación más sencilla de defectos o desgaste
- Facilita la documentación y la elaboración de informes
Ensayo de rugosidad de superficie a escala subnanométrica con un amplio campo de visión
El campo de visión más amplio: hasta 15,5 x 11,7 mm
La nueva y exclusiva lente de 0,6x amplía literalmente su campo de visión: « Micro.View » permite analizar la rugosidad de superficie, la estructura superficial o las microestructuras en alta resolución utilizando los aumentos clásicos de 20x a 111x. Con un solo clic y el cambio automático a la lente de 0,6x, se consigue una transición fluida a mediciones de forma o de planicidad en áreas extensas. Examine microestructuras a gran escala sin necesidad de unir imágenes. Revela todos los detalles estructurales sin perder de vista los parámetros de forma, el alabeo o los desniveles en áreas extensas.
Motorización y automatización: para una mayor eficiencia en la planta de producción.
Micro.View+ Aporta una motorización completa para una flexibilidad y precisión de repetición máximas. Ideal para entornos de producción o tareas de medición recurrentes.
- Revólver motorizado para hasta cinco objetivos codificados
- Mesa motorizada en los ejes X, Y, Z y de inclinación/giro
- Unión automática de imágenes para escaneos de alta resolución en áreas extensas
- Sistema de recetas de control de calidad para secuencias de trabajo independientes del operario
CSI: interferometría de barrido de coherencia para una precisión máxima.
Micro.View Se basa en la tecnología CSI (también conocida como Interferometría de luz blanca), el estándar del sector para la tecnología de medición de superficies sin contacto y de área amplia. Escanea verticalmente una fuente de luz de banda ancha y analiza el Patrón de interferencia.
- Evaluación de la envolvente: robusta en superficies rugosas y de bajo contraste
- Evaluación de fases: resolución subnanométrica en muestras lisas y de planicidad alta
- Análisis de correlograma: aprovechamiento completo del Patrón de interferencia para obtener la máxima robustez y precisión
Esto permite medir tanto ópticas pulidas como piezas técnicas con rugosidad con el mismo sistema.
CST – Rango Z completo de 100 mm sin perder resolución.
La tecnología de escaneo continuo (CST) transforma todo el rango de desplazamiento de 100 mm en un Rango Z útil con una resolución constante, independientemente de la lente.
- Admite muestras grandes y altas sin necesidad de reposicionarlas
- Mantiene la precisión de medición en todo el rango de medición
- Reduce el esfuerzo de configuración y evita la necesidad de unir imágenes o reenfocar
ECT – Datos de superficie 3D fiables en el taller.
El ruido, las vibraciones y las fluctuaciones de temperatura pueden afectar a las mediciones. Nuestra tecnología de compensación ambiental (ECT) compensa estas perturbaciones y garantiza la coherencia de los datos, incluso en el taller.
- Mejora la fiabilidad en entornos ruidosos o inestables
- Permite la automatización y el control de calidad en línea sin necesidad de un aislamiento total
- Resulta especialmente útil para componentes sensibles (por ejemplo, MEMS, capas finas)
ECT y CST
Compensación ambiental y Tecnología de escaneo continuo para facilitar las mediciones y permitir que se realicen de forma autónoma
Smart Scanning Technology
SST permite medir superficies reflectantes o mates
Escenarios versátiles
Mesa XY motorizada con un recorrido de hasta 200 x 200 mm.
. Función de inclinación y giro manual o motorizada.
Focus Tracker
Controla el enfoque cuando se utilizan plataformas de inclinación y giro para garantizar una resolución y una precisión de repetición óptimas.
Torreta Encoder
Revólver motorizado o manual, con Focus Finder y Focus Tracker.
100 mm en el eje ZRange
Rango Z de 100 mm (equivalente al rango de medición) con « Continous Scanning Technology » (CST).
La altura se puede ampliar con diferentes soportes.
Color View
La cámara de 1,9 MP proporciona imágenes en color de las muestras para facilitar una mejor visualización, por ejemplo, en la Detección de defectos.
Elige con total confianza el perfilómetro de superficies adecuado: déjanos realizar un estudio de viabilidad con tu muestra.
Configuración modular, características técnicas y opciones
| Z Range | de 100 mm (posicionamiento y medición) |
| Resolución vertical | 0,01 nm |
| Precisión de repetición del valor cuadrático medio (RMS) | 0,05 nm |
| SaReflectividad simple | 0,05 a 100 % |
| Puntos de medición píxeles X-Y | 1.910.400 (píxeles efectivos) 1.592 x 1.200 |
| Velocidad de medición | Hasta 100 µm/s |
| Unión de imágenes | Hasta 500 millones de puntos de datos |
| Parámetros ISO | ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920 |
Micro.View+
Para muestras de gran tamaño, con la máxima flexibilidad y una Mesa motorizada XY de 200 x 200 mm.
Micro.View+C (compacto)
Dispositivo de sobremesa compacto con mesa motorizada XY de 75 x 75 mm o 100 x 100 mm.
Descargas
¿Quieres probar nuestro medidor de rugosidad?
Envíanos tu muestra y realizaremos un estudio de viabilidad con nuestro perfilómetro y analizaremos contigo los resultados.
Esto le permitirá conocer con precisión el rendimiento del perfilómetro óptico con sus muestras reales.
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El Pro.Surf+ adopta el enfoque inverso. Strse centra en la comprobación de la planicidad, el paralelismo y la forma, pero también puede realizar análisis de rugosidad de superficie con una resolución lateral de 2,6 µm.
ISO 21920 Rugosidad
ISO 21920 es la nueva norma de referencia en ingeniería mecánica, diseño y especificaciones de rugosidad
Tareas de medición
Con un perfilómetro óptico WLI podrás realizar todas las tareas de medición de superficies: desde los parámetros de forma de la superficie y la rugosidad hasta tareas específicas como el espesor de capas y recubrimientos.
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Empecemos con una breve charla sobre sus piezas, tolerancias y flujo de trabajo; y, si resulta útil, podemos añadir un estudio de viabilidad, un servicio de mediciones por encargo ( PolyMeasure ) o una prueba de PolyRent como siguientes pasos opcionales.
