全场式激光测振仪显微镜扩展附件

介观与微观尺度下的高分辨率振动测量

PSV-A-711 全场式激光测振仪显微镜扩展附件

介观组分和微观结构的动态表征

借助Polytec多普勒激光测振仪,对电子元件、MEMS或医疗部件等小型结构进行振动测量既简单又高度精确。这些系统能够以卓越的分辨率,对介观元件和微结构进行非接触式、可靠的动态表征。

凭借覆盖至吉赫兹(GHz)范围的宽频带特性,这些测量系统能够精确捕捉振动模态、共振和频率响应,以及脉冲响应和阻尼特性。这使得对仿真和分析结果进行精确验证成为可能,从而有助于优化并加速开发流程。

要表征振动和运动,需要针对不同尺寸的结构使用专用光学设备
要表征振动和运动,需要针对不同尺寸的结构使用专用光学设备

介观组分测量的解决方案

VibroScan QTec 是一款功能多样的全场式激光测振仪,可用于对面积从几平方厘米到几平方米的复杂结构进行动态表征。通过光学扩展组件,可轻松将扫描范围调整至介观和微观尺度——在保持最高分辨率和测量稳定性的同时,无需更换系统。

 

小型结构的精密振动测量

新型适配器为Polytec 扫描振动计增添了显微镜物镜,从而打造出用于介观和微观结构振动分析的高度灵活工具。该设备特别适用于消费电子、MEMS、医疗技术及传感器系统等领域的应用。

VibroScan QTec Neo 可对测量位置进行可靠控制,并凭借其短波长,在10倍放大倍率和高数值孔径下实现小于2 µm的斑点尺寸。这使得即使是最微小的区域也能进行精确测量——无需切换到专门的显微式激光测振仪。

显微镜延长管——显微镜物镜适配器
显微镜延长杆——显微镜物镜适配器

VibroScan QTec——振动测量技术领域的全能型产品

Polytec 公司推出的VibroScan QTec 扫描式激光测振仪是一款真正的全能型设备:它既适用于大面积结构(例如车身或机械部件的振动分析),也适用于对最小微结构进行高分辨率分析。

搭配合适的附件,该系统可覆盖从宏观到微观的整个测量范围。

VibroScan QTec Xtra 带着笔记本电脑和PSV Software
VibroScan QTec Xtra 带着笔记本电脑和PSV Software

VibroScan 的高级应用

借助显微镜扩展模块,VibroScan 的典型应用范围从宏观范围,经厘米和毫米级的中观范围,延伸至微观范围。

MEMS与微机械学
MEMS 致动器和传感器元件的高分辨率工作偏转形状,包括对共振行为和频率响应的评估。
消费电子产品
对智能手机组件(如摄像头模组、对焦驱动器、触觉执行器)以及电路板效应(如“电容器鸣响”)的详细分析。
医学与生物学应用
对尺寸在可检测范围内的医疗器械机械部件或生物样本进行检测。
Str紧凑组件的结构动力学
识别局部振动热点、记录运行时的挠度曲线,并在介观尺度上对有限元模型进行验证。
引线键合与半导体封装
对半导体制造过程中键合毛细管和键合工具的超声振动行为进行实时表征,以实现工艺优化和质量保证。
触觉致动器与反馈系统
利用时序速度测量对触觉电机和LRA执行器进行验证,以及可视化触觉显示器中的波传播过程,涵盖从开发到制造质量保证的整个过程,特别是在汽车领域。
无需额外光学元件的被测物体(相机变焦至最佳状态)
配备微扫描镜头的微距拍摄单元
5倍放大倍率的显微镜延长管
10倍放大倍率的显微镜扩展功能

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我们很乐意通过简短的演示,向您展示使用显微镜扩展装置进行测量是多么简单高效——无论是使用我们的组件,还是直接在您的工件上进行测量。

同轴单元的特写

PSV 同轴单元可将集成相机的光学中心与激光束轴线精确对齐,从而实现无视差测量。

前端可选配的微扫描镜头可精确调节视场:在缩小激光光斑直径的同时,还能提高放大倍率。这使得测量分辨率进一步提升,非常适合测量小型或结构复杂的被测物体。

该光学系统的独特之处在于,即使在扫描测量过程中,也能将激光束与被测物体表面保持平行。
这使得即使是对反射性表面也能进行可靠测量,因为反射光会被稳妥地捕获。从而确保测量结果稳定且可重复。

带微距单元的测量摄像头模块
带微距单元的测量摄像头模块

显微镜扩展模块

显微镜延长管用作适配器,用于将显微镜物镜安装在近摄单元上。它能提供比传统微扫描镜头更高的放大倍率,并将精密振动测量的范围扩展至微米级。

集成式同轴LED照明系统可确保最佳照明效果和最高图像质量,无论选择何种物镜放大倍率。这使得不同显微镜物镜能够灵活应用。

在10×放大倍率下,激光光斑直径可缩小至仅2 µm,这是在研发领域对最精细结构进行高精度测量的先决条件。

利用显微镜延长杆测量MEMS悬臂梁
利用显微镜延长杆测量MEMS悬臂梁

用于介观组件和微观结构的非接触式振动测量法

从平方厘米到微米量级:了解VibroScan QTec 如何精确表征相机模块、MEMS麦克风或键合线等微小嵌入式结构的动态特性,以及如何通过兼容的附加光学组件将测量范围扩展至介观和微观量级。

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