NIR-Quellen schnell und winkelabhängig charakterisieren
Die genaue Charakterisierung von NIR-Quellen wie Oberflächen-Emittern wird im LIDAR-Bereich zur Sensor-Analyse bei autonomen Fahrzeugen oder in der 3D-Fernerkundung eingesetzt. Aber auch die NIR-basierte Gesichtserkennung, zum Beispiel in Smartphones oder sicherheitsrelevanten Banking-Anwendungen, kann durch diese Technologie perfektioniert werden. Apple setzt die Eldim-Systeme bei der Produktion des iPhone X zur Charakterisierung seiner Face-ID ein.
Die Eldim-Systeme wurden für die Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen entwickelt. Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Die Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb ihres Betrachtungswinkels von ±70° bzw. ±40° bei einer hervorragenden Winkelauflösung von 0,05°. Die Messdauer zur Charakterisierung des Fernfeldes liegt unter einer halben Sekunde. Damit unterscheiden sie sich erheblich von herkömmlichen Methoden, die für vergleichbare Messungen mit einem Goniometer mindestens mehrere Stunden benötigen.
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OFScope-NIR-DSD
Das OFScope-NIR-DSD wurde speziell für LIDAR- und VCSEL-Komponenten entwickelt und eignet sich für die Qualitätssicherung in der Produktion ebenso wie für den F&E-Bereich.
- - Kalibrierte Wellenlängen: 850, 905 und 940 nm
- - Optische Winkelauflösung: 0,05°
- - Arbeitsabstand: 30 mm Hohe Präzision und hochverfügbar
- - High-Speed-Messungen
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VCProbe-NIR-STG
Das VCProbe-NIR-STG dient der präzisen Analyse der Eigenschaften von IRED-Punktprojektoren und Flächenstrahlern, wie sie in der 3D-Bildgebung mittels Stereoskopie oder strukturiertem Licht eingesetzt werden.
- - Kalibrierte Wellenlänge bei 940 nm
- - Optische Winkelauflösung: 0,05°
- - Arbeitsabstand: 4 mm
- - Hohe Präzision und hochverfügbar
- - High-Speed-Messunge
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