Formtoleranzen von Oberflächen zuverlässig messen

Das TopMap Pro.Surf bestimmt Formabweichung schnell, zuverlässig und präzise mit besonders großem Bildfeld. Das High-End-Oberflächenmessgerät TopMap Pro.Surf ist optimal zur Messung präzisionsgefertigter Oberflächen geeignet - im Messraum, produktionsnah und dank hoher Wiederholpräzision auch direkt in der Produktionslinie. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen und Parallelität bietet das TopMap Pro.Surf kundenspezifische Lösungen. Dabei bestechen insgesamt die räumliche Auflösung, die telezentrische Optik und die Geschwindigkeit.

 

überragend großes Einzelbildfeld
(erweiterbar auf 230 x 220 mm)

großer Z Bereich

hohe vertikale Auflösung

Garantie + lebenslange Software-Updates

Highlights

  • Schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung
  • Berührungsloses Messprinzip und rückführbare Messergebnisse
  • Großes & mehrere Werkstücke in einem Schuss messen dank riesigem Messvolumen 230 x 220 x 70 mm³
  • SST Smart Scanning Technologie + Filterrad meistern nahezu alle Oberflächen
  • Telezentrische Optik misst selbst tiefliegende Stellen
  • Sicheres Probenhandling dank großem Arbeitsabstand
  • Automatische Bauteilerkennung (Form, Lage) ohne mechanische Aufnahme
  • 4 Jahre Garantie und lebenslange Software-Updates inklusive

Form, Stufen etc. großer Flächen messen

Polytec Weißlichtinterferometer messen Formparameter wie Dicke, Parallelität, Stufenhöhe und Welligkeit schnell, in 3D und hochaufgelöst im nm-Bereich. Das TopMap Pro.Surf erfasst große Flächen und ist somit schneller und effizienter gerade bei großen Prüflingen und gleichzeitiger Messung mehrerer Proben. 2 Millionen Messpunkte erfasst binnen weniger Sekunden dank großem Bildfeld von 44 x 33 mm beschleunigt Ihre Oberflächeninspektion signifikant. Erweitern Sie das Messfeld durch Sichtfeld durch Stitching auf 230 x 220 mm. Der besonders große vertikale Messbereich bis 70 mm (Z-Achse) mit exzellenter vertikaler Auflösung (unabhängig der Bildfeldgröße!) bieten weiteren Freiraum für individuelle Messaufgaben. Die telezentrische Optik mit 70 mm Z-Bereich erreicht selbst schwer zugängliche und tiefliegende Flächen wie Bohrungen und Bodenflächen für eine maximale Stufenauswertung.

 

Formabweichung messen - Ebenheit, Welligkeit, Stufenhöhe...

Dank des Weißlichtinterferometers bleiben keine Details unbemerkt. Ohne Stitching werden 2 Millionen Messpunkte auf einer großen Messfläche von 44 x 33 mm binnen weniger Sekunden erfasst - erweiterbar sogar auf 230 x 220 mm. Mit 70 mm vertikalem Messbereich und exzellenter vertikaler Auflösung unabhängig von den Bildfeldgrößen ergibt sich viel Spielraum für flexible Messaufgaben. Die telezentrische Optik erreicht dabei selbst schwer zugängliche Bereiche wie zum Beispiel Bohrungen.

In der neuen Generation hilft die noch schnellere Datenerfassung, Taktzeiten und erforderliche Geschwindigkeit einzuhalten. Integrierte Bildverarbeitungswerkzeuge wie automatische Mustererkennung (pattern recognition) beschleunigen die Qualitätssicherung enorm. Mehrere Prüflinge werden gleichzeitig mit einer Messung erfasst - ohne mechanische Aufnahme bei beliebiger Anordnung im Bildfeld.

Großflächig schneller messen in Labor und Produktion

Pro.Surf meistert anspruchsvolle Produktionsabläufe mit kurzen Messzeiten für hohen Durchsatz. Integrierte Bildverarbeitungstools wie die automatische Mustererkennung beschleunigen Ihre Qualitätskontrolle, machen eine mechanische Bauteilaufnahme überflüssig und ermöglichen somit schnellere und effizientere Oberflächenprüfungen in einer einzigen Messung mit großen Bildfeld (FOV). Fragen Sie nach Positioniereinheten für individuelle Setups, nach der offenen SW-Architektur zur Definition eigener Parameter, SDK-Tools oder Messrezepten als 1-Klick-Lösungen für die Produktion, um Pro.Surf zu Ihrem individuellen Profilometer zu machen.

Unsere PolXperts unterstützen Sie mit Messdienstleistungen und Anwendungssupport in allen Phasen!

Pro.Surf: Topografie und Formparameter großer Flächen messen

Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse

Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen. 

Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!

TopMap optische Oberflächenmesstechnik - Alles im Blick

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