Vérifier de manière fiable des surfaces de haute précision
Le TopMap Pro.Surf détermine la forme rapidement, de manière fiable et précise. La solution à la pointe de la technologie, le TopMap Pro.Surf est idéale pour mesurer rapidement et simplement des surfaces de haute précision, dans la salle de métrologie, proche de la production ou bien encore grâce à la répétabilité directement sur la chaîne de production. Ce système offre une solution pour toutes les caractérisations de surface, que cela soit de la mesure de planéité, de hauteur de niveau, de parallélisme ou de rugosité. Le modèle séduit à la fois pour sa résolution spatiale, son objectif télécentrique et sa vitesse.
Inscrivez-vous à l'atelier sur la métrologie des surfaces
Vous souhaitez en savoir plus sur les solutions efficaces d'évaluation des surfaces ? Avez-vous déjà utilisé des interféromètres à lumière blanche pour examiner rapidement et sur toute la surface de vos échantillons ? Vous souhaitez connaître les derniers développements dans le domaine de la topographie et de la métrologie de surface ? Apportez vos échantillons et nous mesurerons vos composants.
Venez à la journée TopMap le 10 octobre 2024 à Châtillon ! Un atelier pour tous les ingénieurs et techniciens de mesure, responsables qualité ainsi qu'aux chefs de projet dans le domaine du contrôle qualité et de la métrologie des surfaces.
- Point techno et comparatif de techniques de mesure
- Conseils individualisés pour votre étude de mesure
- Mesure et analyse de vos échantillons
- Remise d'un rapport d'évaluation personnel et gratuit
Points forts
- Caractérisation rapide et précise de surfaces 3D
- Mesure sans contact et résultats répétitifs
- Technologie Smart Scanning et un jeu de filtres adaptés pour toutes les surfaces
- Volume de mesure important 230 x 220 x 70 mm³
- L'optique télécentrique permet de mesurer même sur des points en profondeur
- Manipulation d'échantillon sécurisé grâce à une grande distance de travail
- Reconnaissance des formes automatique sans positionnement mécanique
- Logiciel d’analyse et de mesure simple et pouvant être automatisé
La planéité des surfaces, le parallélisme et la hauteur des marches
Grâce à la combinaison d'un interféromètre à lumière blanche et de la technologie confocale chromatique, aucun détail ne peut passer inaperçu. 2 millions de points de mesure sur une grande surface de mesure de 44 x 33 mm sont enregistrés en quelques secondes, et cela peut s´étendre à une surface de 230 x 220 mm avec recombinaison de mesure. Avec plage de mesure verticale de 70 mm et une excellente résolution verticale indépendante de la taille du champ d'image, il permet une grande marge pour des mesures nécessitant de la flexibilité. L'optique télécentrique atteint même des zones difficilement accessibles, telles que les trous.
Pour cette nouvelle génération de systèmes de métrologie de surface, l’acquisition rapide de données permet de se conformer aux temps de cycle et la vitesse de mesure requise. L’intégration d’outils de traitement d'images, tels que la reconnaissance des formes automatique accélèrent considérablement le process qualité. Plusieurs échantillons sont simultanément enregistrés avec une seule mesure, sans mise en place mécanique et peu importe la position du champ objet.
Métrologie optique des surfaces - Voir plus de détails
Produits associés
TopMap Metro.Lab
En tant que solution de mesure complète, le TopMap Metro.Lab est idéal pour de la mesure topographique de grande surface. Le très bon rapport qualité/prix le rend intéressant pour les entreprises avec de faibles volumes de travail.
TopMap Pro.Surf+
La solution de métrologie optique 3D tout-en-un de Polytec. Cet interféromètre ultra précis à lumière blanche combine un capteur confocal chromatique pour les profils de rugosité avec une mesure surfacique des paramètres géométriques et de la déviation de forme dans un système multi-capteurs. Pro.Surf+ est la solution idéale pour mesurer la topographie de grands échantillons avec un large champ de vision (FOV) tout en caractérisant les détails structurels avec une résolution de l'ordre du nanomètre.