Ebenheit und Parallelität zerstörungsfrei und blitzschnell messen

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Bei Funktionsoberflächen ist es für die Einhaltung geforderten Toleranzen häufig von entscheidender Bedeutung,  Kenngrößen wie Parallelität und Ebenheit zu messen. Beispiele für derartige Messaufgaben aus der industriellen Fertigung gibt es viele, etwa Dichtflächen in der Druck- und Vakuumtechnik, transparente Folien für Displays, Halbleiterbauelemente sowie diverse Metall- und Keramikoberflächen. Die TopMap-Messsysteme von Polytec bestimmen auch  andere Formparameter wie z.B. Welligkeit einfach und zuverlässig. Sie erlauben es, direkt in der Produktionsumgebung oder in Prüflaboren flächenhaft Parallelität und Ebenheit auf einem großen Bildfeld zu messen und damit eine schnelle und vollständige Charakterisierung der Werkstückoberflächen zu erzielen. 

Ebenheit und Parallelität messen mit der TopMap Familie

Hersteller weltweit setzen daher auf Polytec TopMap Geräte, um Oberflächenkenngrößen wie Parallelität und Ebenheit ihrer Produktoberflächen zu messen. Die Topografiemesssysteme mit Weißlicht-Interferometrie-Technologie verfügen über einen großen vertikalen Messbereich mit einer Auflösung im Nanometer-Bereich – und das völlig unabhängig von der Bildfeldgröße – und überprüfen Formtoleranzen in kürzester Zeit rückwirkungsfrei. So ist es Herstellern möglich, Ebenheit und Parallelität äußerst schnell und komfortabel zu messen, auch bei großen Flächen und auf fast allen Materialien. Die Weißlicht-Interferometer der TopMap Familie von Polytec erfassen die komplette Topografie eines Werkstücks oder Objekts mit nur einer Messung und vermeiden Stitching.

Passt sich jedem Prozess an

Die Oberflächenmessgeräte erlauben dank der mitgelieferten programmierbaren Mess- und Auswertesoftware Anpassungen an die verschiedenen Prozessabläufe. Zusätzlich bietet Polytec das umfangreiche QC Package: Mit ihm ist es außerdem möglich, Messeinstellungen vorab zu definieren und Ebenheit und Parallelität mit nur einem Klick automatisiert zu messen. Auch eine standortübergreifende Qualitätskontrolle und die Minimierung äußerer Einflüsse wie Lärm und störende Vibrationen sind mit dem QC Package von Polytec ganz einfach umsetzbar.

TopMap Pro.Surf

Das TopMap Pro.Surf  ist eine flexible  Modell der  Oberflächenmessgeräte von Polytec und Ihr Präzisionswerkzeug für die Qualitätsprüfung von Präzisionsoberflächen, beispielsweise Dichtflächen im Automotivbereich. Seine hohe Messgeschwindigkeit in Verbindung mit dem großen Messfeld und einer offenen Softwarestruktur erlauben Ihnen eine hochgenaue und vollflächige Prüfung von Ebenheit und Parallelität – selbst in schwer zugängliche Vertiefungen wie Bohrungen.


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TopMap In.Line

Parallelität und Ebenheit messen bei hoher Durchlaufgeschwindigkeit direkt in der Fertigungslinie? Für Ihre Qualitätssicherung entwickelte Polytec ein kompaktes und robustes Weißlicht-Interferometer, das sich dank schneller Sensorik flexibel und zuverlässig in Ihren Produktionsprozess integriert – auch bei kurzen Taktzeiten. Die optische 3D-Messtechnik misst berührungslos und damit zerstörungsfrei. Doch Ihre Prüflinge sind sogar doppelt geschützt: Das TopMap In-Line arbeitet ohne Objektive und vermeidet dadurch Kollisionen und Beschädigungen an Ihren Oberflächen oder an der Optik des Gerätes selbst. 

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Weitere Oberflächenparameter