03.06.2026

用途に最適な光学プロファイラー技術はどれか? | ガイド

エンジニア・技術者のための実践ガイド

光学プロファイラーの選定は、かつては単純でした — 各技術にはっきりとした得意領域があったからです。しかし今日では、そうではありません。白色光干渉計(WLI/CSI)、共焦点顕微鏡、フォーカスバリエーションのいずれもが、より優れた光学系、より高度なアルゴリズム、改善された信号処理の恩恵を受けています。これらの能力はかつてないほど重なり合っています。
 つまり、いま問うべきは「どの技術が表面を測定できるか」ではなく、「どの技術が最も高い精度、再現性、ワークフロー効率で測定できるか」です。

選定を左右する4つの質問

1 質問 1

急峻な側面を測定する必要がありますか?


代表的な用途

工具検査 · アディティブマニュファクチャリング · タービンブレード形状 · テクスチャ面・ブラスト面

技術的なポイント

急峻な側面の解析が作業の中心となる場合は、フォーカスバリエーションまたは共焦点が有利となることが多くあります。

2 質問 2

粗さ、コーティング、または精密表面を測定していますか?


代表的な用途

ナノメートルレベルの粗さ · 光学面 · 薄膜・コーティング · 半導体構造 · 段差高さ測定

技術的なポイント

垂直方向の感度と低ノイズが重要な場合は、WLI/CSI が依然として最も優れたソリューションです。

3 質問 3

主な対象が形状、うねり、または寸法計測ですか?


代表的な用途

平面度 · 平行度 · 反り・うねり · うねり · 大面積トポグラフィ

技術的なポイント

これらの用途では、測定原理そのものよりも、システムアーキテクチャ(スティッチング品質、スキャン範囲、安定性)が重要になります。まず WLI から検討することをお勧めします。

4 質問 4

これは生産現場での計測環境ですか?


代表的な用途

合否判定検査 · 膜厚管理 · 多数個測定 · 凹状形状・ボア

技術的なポイント

生産計測では、最大分解能よりもワークフローの堅牢性やスループットが重視されることが多くあります。WLI マクロプロファイラーから始めることをお勧めします。

技術的な観点と、それぞれの違い

白色光干渉計 - 精密表面と生産要求に最適

WLI は高い信頼性と、高く安定した垂直分解能を備えるため、産業分野での定番ソリューションです。ただし、急峻な側面や強く散乱する表面にはあまり適していません。

  • 最高の垂直分解能(サブnm)
  • 平滑で反射性の高い表面
  • 大面積の形状、平面度、平行度、厚さ、コーティングに最適
  • Z軸方向で一定の分解能
フォーカスバリエーション - 急峻で凹凸のある表面に最適

フォーカスバリエーション方式のプロファイラーは、急峻な側面を測定する必要がある場合に最も優れています。ただし、平滑な仕上げ面や鏡面では制約があります。

  • 80°以上の傾斜にも対応
  • 粗くテクスチャのある表面に優れる
  • 切削工具、アディティブマニュファクチャリング部品、成形工具
  • 生産環境で堅牢
共焦点顕微鏡 - 多用途に対応するシステム

共焦点技術によるプロファイロメータは、特定の用途で突出するわけではありませんが、多くの表面計測タスクに適しています。ただし、垂直分解能がやや低く、Z軸方向で変動するという注意点があります。

  • さまざまな表面タイプに対応する多用途性
  • 中程度の傾斜にも良好に対応
  • 混合材料や一般的な産業計測
  • 分解能と柔軟性のバランスが良い
マルチテクノロジーシステム - 柔軟性は高いがコストも伴う

マルチテクノロジー機は、すべての技術を1台のプロファイラーに搭載しています。そのため最大限の柔軟性を提供しますが、どの技術をいつ使うべきか、また同じ部品が日によって異なる結果を示したときにその違いをどう解釈するかを、オペレーターが理解している必要があります。ほとんどのラボや生産環境では、適切に選定された単一技術のほうが、よりシンプルなワークフローと低い総所有コストで、大半のタスクをより確実にカバーします。

  • すべての技術を1台に統合
  • コストの増加
  • 技術と運用の複雑さの増大

各技術の計測項目別パフォーマンス

 

評価項目WLI / CSI共焦点フォーカスバリエーション
垂直分解能最高高い中~高
平滑な反射表面優れる良好困難
急峻な側面中程度良好優れる
膜厚優れる良好限定的
大面積の形状優れる良好中程度
生産計測優れる良好用途による

技術だけでなく、システム全体を評価する

技術のマーケティングでは、理想的なサンプルでのベストケース性能が示されがちです。意味のある評価とは、お客様の部品を、お客様の合否基準に対して行うものです。実環境での性能を明らかにするのは、次のような項目です:

  • 粗さの再現性 — 同じ部品を10回測定する
  • 実際の部品形状における無効ピクセル率
  • 実際の側面で測定可能な最大傾斜
  • スティッチングを含む測定時間
  • お客様の基準手法(触針式、CMM)との相関
  • トレーニングの負担とオペレーター依存性

当社の推奨: 最も重要な部品を調査し、少なくともメーカーに実現可能性チェックを依頼してください。最善の方法は、システムをレンタルして、お客様の環境で専門家とともに十分にテストすることです。Polytec は無償の実現可能性チェックを提供しており、システムは簡単にレンタルできます。導入効果が実証された場合、レンタル費用は購入価格から差し引くことができます。当社のお試し導入をぜひご検討ください。

結論

大半の産業計測タスク — 精密部品の粗さ、光学部品の形状、コーティングや膜厚、平面度 — においては、WLI/CSI が最も高い精度と最も低い測定不確かさを実現します。共焦点とフォーカスバリエーションは、形状がそれを要求する場合に適した選択肢ですが、いずれも精密計測で最も重要となる項目においてトレードオフを伴います。最良の選定プロセスは、代表的な部品での測定トライアルです。それに代わる仕様書は存在しません。

よくあるご質問

白色光干渉計(WLI/CSI)はどのように動作するのか?

白色光干渉計(コヒーレンススキャン干渉計、CSI とも呼ばれます)は、広帯域光のビームを参照経路と表面で反射する経路に分割します。対物レンズが垂直方向に走査すると2つのビームが干渉し、経路長が一致する正確な高さで干渉コントラストがピークに達します。各画素についてそのピークを追跡することで、システムはサブナノメートルの垂直分解能を持つ高さマップを構築します。この分解能は Z軸方向で一定であり、これが WLI/CSI が平滑で反射性の高い精密表面に非常に強い理由です。この計測器クラスは ISO 25178-604 で規定されています。

共焦点顕微鏡は表面測定にどのように使われるのか?

共焦点顕微鏡は、ピンホールを通して表面を照明し、2つ目のピンホールを通して反射光を集めることで、正確な焦点面からの光だけが検出器に届き、焦点外の光は除去されます。焦点位置を走査して各点が最も鮮明になる位置を記録することで、システムは点ごとに表面高さを再構成します。これにより、共焦点はさまざまな表面タイプや中程度の傾斜に対応する多用途な万能機となりますが、垂直分解能は WLI よりわずかに低く、Z軸方向で変動することがあります。この計測器クラスは ISO 25178-607 に記載されています。

フォーカスバリエーションはどのように動作するのか?

フォーカスバリエーションは、被写界深度の浅い光学系と垂直走査を組み合わせて使用します。光学系が焦点位置を移動すると、計測器は各点における画像の鮮鋭度(コントラスト)の変化を解析し、ある点が最も鮮明になる高さがその標高となります。干渉ではなく表面のテクスチャや反射率の変化に依存するため、フォーカスバリエーションは急峻な側面(約80°以上の傾斜)や粗くテクスチャのある表面を非常によく扱えますが、極めて平滑な面や鏡面にはあまり適していません。この計測器クラスは ISO 25178-606 で規定されています。

共焦点クロマティック(点)センサーとは何か、共焦点顕微鏡とどう異なるのか?

共焦点クロマティックセンサーは、軸方向の色収差を意図的に持たせたレンズを使用するため、白色光の各波長がわずかに異なる距離で焦点を結びます。表面上で焦点が合った波長だけがピンホールを通して鮮明に戻り、分光器がその波長を読み取って高さを決定します。面を取得するイメージング型の共焦点顕微鏡とは異なり、クロマティックプローブは点センサーであり、高速な距離測定、厚さ測定、凹状形状の測定によく使われます。これは ISO 25178-602 として個別に標準化されています。

これらの光学プロファイリング手法は標準化されているのか?

はい。ISO 25178 シリーズ(製品の幾何特性仕様(GPS)、表面性状:面)は、面の表面性状測定と、各計測器タイプの設計および計量特性を定義しています — コヒーレンススキャン干渉計は Part 604、共焦点顕微鏡は Part 607、フォーカスバリエーションは Part 606、共焦点クロマティックプローブは Part 602 です。表面プロファイルは面トポグラフィデータから抽出できるため、これらの手法は断面測定にも適用でき、同じパラメータと設定を用いれば計測器間で結果を比較可能になります。これらの規格は ISO/TC 213 によって維持されています。

表面計測を素早く始めるには

私たちは Measure what matters という理念を真剣に受け止め、お客様の状況に最も適した形でサポートします。たとえご要望が一時的なものであっても、あるいはまだフルシステムの予算がない場合でも、選択肢があります:PolyRent でシステムをレンタルする、または PolyMeasure で当社のスペシャリストに測定を代行してもらうことができます。ご購入をお考えの場合は、まず実現可能性調査やレンタルから始めることをお勧めします — レンタル料金は後に購入価格に充当されます。当社の専門家にご相談いただければ、お客様の計測課題に最適なアプローチをご提案します。

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—and, if useful, we can add a feasibility study, PolyMeasure, or a PolyRent trial as optional next steps.