Ebenheit zuverlässig messen

Die Überprüfung der Ebenheit an Werkstücksoberflächen ist für den funktionalen Einsatz vieler Glasprodukte oder Komponenten der Feinmechanik wie zur Aufnahme von Optiken und Glaskomponenten mit entscheidend für die Qualität. Die Charakterisierung der Oberflächenebenheit kann ganz unterschiedliche Einsatzbereiche in Halb- und Fertigerzeugnissen haben. Unabhängig von der Anwendung bietet Polytec optische Mess- und Prüflösungen für die zuverlässige Evaluierung der Formparameter wie der Ebenheit auf Glas. Großflächig messende Weißlichtinterferometer der TopMap Sensorfamilie messen die Ebenheit flächenhaft und erfassen dank großem Bildfeld (FoV) sehr schnell und berührungslos. So sammeln sie präzise 3D-Messdaten mit einer Genauigkeit bis in den Nanometer- und sogar Subnamometerbereich hinein. TopMap-Oberflächenmesstechnik wird zur Bewertung von Formparametern und Ebenheit sowohl im Messlabor als auch produktionsnah eingesetzt. Diese berührungslosen Oberflächenprofilometer zeichnen kontinuierlich Höhendaten in Echtzeit auf und geben so ein unmittelbares Feedback für den Produktionsprozess. So kann die Ebenheitsmessung zur Einhaltung der Toleranzen und Produktqualität entscheidend beitragen und kosteneffiziente Qualitätskontrollen bieten.


 

Oberflächenebenheit - taktil oder optisch messen?

Im Beispiel eines Spiegelhalters für optische Technolgien ist die Ebenheit eines Bauteils ein ausgemachter kritischer Formparameter und damit qualitätsrelevant. Die präzisionsgefertigten Werktücke sind komplexere, mechanisch in spanenden Verfahren hergestellte Strukturen mit funktionalen Oberflächen. Schmale Teile können sich während und nach der Herstellung leiht deformieren und verziehen. Diese Verformungen haben zur Folge, dass sich die Montageflächen verschieben und der Spiegel entsprechend nicht mehr ideal ausgerichtet wird. Wenn die Ebenheit dieser Montagefläche nicht innerhalb definierter Toleranzgrenzen bleibt, ist der Spiegel nicht mehr ausgerichtet und funktioniert somit nicht mehr richtig.

Gut-Schlecht-Entscheidungen anhand der Ebenheitsmessung

Die Montagefläche vieler Werkstücke wie hier an einer Spiegelhalterung sind sehr filigran und speziell im Falle der Spiegelhalter setzen diese sich aus relativ schmalen, teilweise vertieften Bändern zusammen. Es war daher nicht mehr möglich, die Ebenheit der Montageoberflächen mit einem klassischen taktilen Profiliometer oder Tastspitze zu bestimmen, da nur ein kleiner Teil dieser Oberfläche für die Tastspitze zugänglich war. Im Gegensatz zu taktilen Messverfahren konnte die Anwendung mit einem TopMap Topographie-Messsystem präzises gelöst werden. Das berührungslose optische Messverfahren ermöglicht die flächenhafte Charakterisierung auf nahezu allen Oberflächen und Materialien, unabhängig derer spezifischer geometrischer Randbedingungen und ermöglicht damit eine vielseitige und zuverlässigen Gut-Schlecht-Analyse.

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik