QTec® - 具有革新意义
QTec®技术的问世对于光学振动测试的发展具有里程碑意义，从原理层面出发，它巧妙消除了散斑噪声，具备极为卓越的光学灵敏度，能够高质量地采集任何具有挑战性表面的动态特性数据。
究其原因：QTec创新地运用多通道探测技术，凭借最佳信号质量保障试验结果真实可信。这项专利技术与技术成熟的红外 Xtra 光学头相结合，极大地提升了振动测试的效率，让测试过程变得更快速、更简易，测试结果也更加贴近真实情况 。
工作原理 - QTec® 多通道探测技术
被测表面特性
激光测振的信号质量取决于返射光强度。被测表面特性决定了反射光的空间分布，从而决定了光电探测器从空间位置上获取的信息。
QTec®技术
Polytec公司研发的全新专利QTec® 技术能显著提高信噪比(SNR)。QTec® 甚至能获取测试信号中的细枝末节，为数据后处理带来极大便利。
QTec® 能改进几乎所有被测表面的测试结果，尤其是横向移动或旋转工程等具有挑战性表面。
大幅降低数据平均运算，确保不牺牲信噪比。
工程表面的散斑效应
对于光滑表面，反射光能无损地返射至光探测器。而在现实生活中，测试常常是在光学粗糙的表面上进行。此时，光不再是被反射，而是散射，它包含黑暗和明亮的斑点，看起来像是颗粒状，而且还会随着观察者的特定视角而发生变化。这就导致了有时候有些光没有返回至光探测器，从而导致宽带噪声和不良的信号失真。
解决方案：改变视角
QTec®外差多通道探测仪使用多个探测器，避免光探测器探测不到反射信号的状况发生。
每个探测器都代表着一个具有独特视角的观察者，具有独特的散斑图样。由于这种散斑图样是随机的，这样多个探测器的信号组合能确保稳定的信号水平。
这种“多通道探测”可使各种被测表面受益。
QTec® - 多通道干涉技术
内置于光学头的超高速电子元器件实时评估所探测到的信号质量，只输出最佳信号，使QTec®光学头能与现有所有单通道控制器内置的解码器兼容。
由于QTec®的测试不受被测表面性质所限，因此它几乎可被应用到任何振动测试领域，提供更加快速、简单、可靠的测试结果。
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