用于质量控制的表面和形状参数

表格参数

每当生产工件时，最微小的细节、最严格的制造公差，特别是在技术、功能和精密表面领域，都会影响表面的性能。在这里，制造商必须精确检查和量化许多不同的形状公差，如形状、尺寸和纹理，以及其他位置公差，如平行度和角度，以确保所有关键尺寸符合要求的规格。TopMap表面计量学是专门为满足精密制造部件最苛刻的公差而开发的。

平整性和平行性

在功能表面的情况下，测量特定的参数往往是至关重要的，如精密制造的部件（如燃料喷射器或泵的密封表面）的平面度和平行度。这些表面被设计成在高压下工作，需要精心制造、持续制造并不断检查质量，作为制造过程中不可或缺的步骤。Polytec的TopMap光学三维测量系统是专门为自动化和易用性而设计的，提供精确的测量数据作为生产过程的可靠反馈。TopMap可以直接在生产层面和质量控制实验室中对大视场（FoV）的平行度和平面度进行精确表征，因此，可以对关键部件进行快速和全面的表征。

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高度和台阶

台阶高度、角度和表面之间的相互作用的三维检测往往需要一个大的垂直测量范围。TopMap白光干涉仪提供了一个大的垂直测量范围，可达70毫米，甚至更多，取决于型号。这种大的垂直范围允许测量小的和大的台阶高度，甚至在难以接近的表面上，如深凹的表面。TopMap的特点是远心光学设计，避免了阴影效应，同时提供关键的纳米、微观或宏观台阶高度的可靠测量。模式识别等自动软件有助于优化数据处理，并有助于消除对复杂的工件机械固定的需要。这种增强的自动化大大增加了速度、产量和数据质量。

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表面粗糙度测量

在质量控制、研究、产品开发和生产中，对表面粗糙度的精确和稳定测量往往对保持质量具有决定性意义。传统的轮廓参数往往是二维的。被称为 "R "参数的这些粗糙度参数已被很好地确立和理解。在这里，三维区域 "S "参数作为一种补充，因为功能表面的相互作用需要区域分析。表面形貌是三维性质的。单一的线状剖面不能识别坑或谷，峰或脊。任何对剖面或断面的测量和分析，即使控制得当，也只能对真实的表面形貌作出不完整的描述。区域表面地形学所提供的信息要全面得多。保利达公司的TopMap三维表面计量学提供了符合ISO 25178-2、ISO 4287、ISO 4288的二维和三维面积参数。

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微结构和微系统

微结构是非常小的结构，很多时候人眼很难看到。这些表面类型的功能会受到微米和纳米级的缺陷的微小物理变化的影响。因此，高分辨率的表面检测是微系统技术领域中表面表征的一个重要方面。TopMaps系列基于显微镜的表面轮廓仪提供了一种快速、非侵入性的表面细节检测，并具有出色的重复性。TopMap光学三维表面测量仪是您对微纳米设备、微结构和复杂表面及微系统进行可靠、稳定表征的最佳选择。

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层厚

无论哪里需要确定涂层厚度，无论是在实验室，还是在生产层面，甚至在生产线上，Polytec都可以提供层厚和或多层厚度的测量解决方案。所有这些，都是以非接触和非破坏性的方式进行的。层厚检测的应用范围很广，从薄膜厚度到涂层检测或涂层表面的磨损分析，如汽车、航空航天或医疗部件的功能表面。TopMap公司的非接触式光学测量系统也被用于许多行业，以帮助提高生产和帮助产品研究和开发。

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