用于质量控制的表面和形状参数

表格参数

工件生产时，细微细节和严苛制造公差，尤其在工艺、功能及精密表面环节，都会影响表面性能。为此，制造商需精确检测并量化各类形状公差，涵盖形状、尺寸、纹理，以及平行度和角度等位置公差，确保关键尺寸达标。TopMap 表面形貌测量系统，专为满足精密零部件的严苛公差要求而打造。

平面度与平行度

功能性表面场景下，测量燃油喷射器、泵体密封面等精密部件的平面度与平行度至关重要。这些表面需在高压环境运作，生产时不仅要保障加工质量稳定，还得持续开展质量检测。Polytec 的 TopMap 光学三维测量系统专为自动化设计，操作便捷，能输出精确测量数据，为生产提供可靠反馈。借助该系统，可在生产现场和质检实验室，对大视场的平行度、平面度精准检测，快速、全面地把控关键部件质量。

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台阶高度

三维检测台阶高度、角度和表面间相互作用，通常需要大垂直测量范围。TopMap 白光干涉系统垂直量程大，部分型号可达 70 mm 以上，不管是微小还是较大的台阶高度，哪怕是深凹等难以测量的表面，都能应对。该系统采用远心光学设计，避免阴影效应，能精准测量 nm、μm 及宏观台阶高度。其配套自动化软件可识别测量模式，优化数据处理，减少对复杂机械夹具的依赖，极大提升检测速度与数据质量。

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表面粗糙度测量

在质量控制、科研、产品研发和生产过程中，精确稳定地测量表面粗糙度，对保证产品质量至关重要。传统粗糙度轮廓 “R” 参数多为二维，应用广泛且被熟知。而三维面 “S” 参数能有效补充二维参数的不足，因为功能表面间的作用需开展面分析。表面形貌本就是三维的，单条轮廓线难以识别表面的凹坑、峰谷等特征，即便严格控制，对轮廓或截面的测量分析，也无法完整描述真实表面形貌，相比之下，面分析提供的信息更全面。Polytec 的 TopMap 三维表面测量系统，可按 ISO 25178-2、ISO 4287、ISO 4288 标准，获取 2D 和 3D 表面参数。

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微观结构

微观结构尺寸微小，肉眼难以观测。在 μm 、nm 尺度下，这类表面的细微物理变化或缺陷，会影响其功能发挥。因此，高分辨率表面检测是微系统技术领域表征表面特性的关键。TopMap 基于显微镜的表面轮廓仪，可快速、无损检测表面细节，检测重复性好。针对微纳器件、微观结构复杂表面和微系统，TopMap 光学三维表面测量技术是实现可靠、稳定特性分析的理想之选 。

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涂层厚度

在实验室、生产现场及流水线上，Polytec 都能提供非接触、无损的单层或多层涂层测厚方案。该技术应用广泛，涉及薄膜测厚、涂层检查，以及汽车、航空航天和医疗领域功能表面涂层的磨损分析。Polytec 的 TopMap 非接触光学测量系统，在多个行业发挥作用，既能提升生产效率，也能助力产品研发 。

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