Métrologie optique de surface en 3D
Topographie sans contact et aréolaire
Mesurez les paramètres de forme, la rugosité, la texture ou les microstructures dans le cadre de l'inspection de la qualité de vos surfaces : mesure de la topographie sans contact, visualisation 3D, traçabilité et répétabilité. Bénéficiez d'un grand champ de vision et de données topographiques d'une résolution Z inférieure au nanomètre !
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Caractérisation de surface 3D sans contact
Pour caractériser en détail et en 3D des surfaces fonctionnelles ou sophistiquées fabriquées avec précision, il faut disposer d'une technologie de mesure fiable, rapide et précise. Garantir la fonctionnalité et détecter les défauts à un stade précoce permet d'éviter les coûts inutiles et d'augmenter la qualité globale et la durée de vie du produit. TopMap de Polytec répond aux applications de métrologie des surfaces avec une technologie optique innovante, de haute précision et sans contact, qui fonctionne sur des surfaces rugueuses, lisses et en gradins. Les interféromètres à lumière blanche de la famille de capteurs TopMap sont des outils d'inspection de la qualité optique bien établis pour le laboratoire de contrôle, dans les environnements de production ou en ligne.
Qu'il s'agisse de paramètres de forme et de hauteur de marche avec un large FOV, ou de rugosité et de texture avec une résolution inférieure au nanomètre - sur la mécanique de précision, l'optique ou les microstructures - la métrologie optique des surfaces TopMap les mesure !
Forme, hauteur de marche, rugosité - mesurez-les !
Texture de surface
La texture ou la finition de la surface définit la topographie d'une pièce en termes de rugosité, d'ondulation et de paramètres de pose. La texturation 3D particulière d'une surface de précision affecte son apparence, sa friction, sa résistance à la corrosion et bien plus encore. Conformément aux normes ISO 4287, ISO 25178 ou à la nouvelle norme ISO 21920 en trois parties, les profileurs de surface TopMap acquièrent des millions de points de données pour l'évaluation de la surface en quelques secondes seulement.
Rugosité
La mesure de la rugosité de surface avec les interféromètres à lumière blanche TopMap fournit des millions de points de données en quelques secondes, ce qui permet une analyse répétable et fiable de la rugosité. Ra, Rz... ou Sa Sz ? Polytec propose des profileurs de rugosité 3D, à la fois pour la profilométrie surfacique et linéaire pour l'évaluation de la rugosité selon ISO 25178-1, -2, -3 et ISO 4287, 4288 et ISO 3274 et plus encore. Envoyez votre échantillon pour une étude de faisabilité gratuite et testez la rapidité de l'analyse de la rugosité aréolaire et optique.
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ est la nouvelle génération de profilomètre optique 3D avec conception modulaire pour un contrôle en laboratoire ou en ligne, spécialement adapté pour une mesure fiable et précise des applications les plus complexes en finition de surface et microstructures. Ses innovations « Focus Finder » (recherche de focus) et « Focus Tracker » (suivi du focus) permettent une meilleure qualité de mesure et un gain de temps avec des unités de positionnement motorisées prêtes pour l'automatisation. En savoir plus!
Hauteur de marche
Mesurer la hauteur de marche sur des surfaces de précision pour le contrôle de la qualité des surfaces fonctionnelles des pièces à usiner. Caractériser la hauteur de marche en 3D sans contact avec des profileurs de surface optiques. Comment calculer la hauteur de marche ? Différences entre la mesure de la hauteur de marche basée sur le profil ou la ligne et la mesure basée sur la surface.
FTP Flatness thickness parallelism
The new Polytec FTP Flatness, Thickness and Parallelism measuring module represents the fast and comprehensive measurement solution for evaluating flatness, thickness and parallelism at once. The FTP measuring module for back and front measurements can become a game-changer in quality control of precision mechanics such as in the watch-making industry, for sealing surfaces, shim rings or optical components and more.
TopMap Pro.Surf+
La solution de métrologie optique 3D tout-en-un de Polytec. Cet interféromètre ultra précis à lumière blanche combine un capteur confocal chromatique pour les profils de rugosité avec une mesure surfacique des paramètres géométriques et de la déviation de forme dans un système multi-capteurs. Pro.Surf+ est la solution idéale pour mesurer la topographie de grands échantillons avec un large champ de vision (FOV) tout en caractérisant les détails structurels avec une résolution de l'ordre du nanomètre.
Spécifiez votre tâche de mesure, demandez un rapport échantillon gratuit
Guide technologique : comparer les avantages et les inconvénients des méthodes de métrologie optique des surfaces
Découvrez les points forts et les limites de ces quatre méthodes courantes de mesure des surfaces : Cette comparaison technologique vous guidera en ce qui concerne la résolution verticale et latérale, les domaines d'application pour les surfaces lisses ou la mesure de la rugosité, ainsi que l'utilisation du piquage.
- Interférométrie en lumière blanche
- Microscopie confocale
- Variation de la mise au point
- Capteurs confocaux chromatiques
Profilers à grand champ de vision (44x33 .. 230x 220mm) ou résolution Z inférieure au nm ?
Domaines d'application
- Automobile
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Optical measurement technology for automotive industry - Micro et nanotechnologie
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Optical measurement solutions for microtechnology and nanotechnology - Électronique et semi-conducteur
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Optical measurement technology for Electronic, Semiconductor and Solar industry - Technologie du disque dur
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Surface topography in data storage technology - Acier, aluminium, métaux
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Surface metrology solutions for steel, aluminum and metal machining processes - Verre et matériau transparent
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Surface metrology solutions for precision mechanics - Biologie et médecine
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Optical measurement technology solutions for Biology and Medicine
Xperts inside!
Une mesure de métrologie de surface efifcace et un contrôle de qualité fiable dépendent du savoir-faire, des connaissances et des experts. Le nouveau système Micro.View®+ est le profileur de nouvelle génération. Les Focus Finder et Focus Tracker améliorent considérablement la facilité d'utilisation dans toutes les conditions. La technologie de balayage continu CST permet d'utiliser toute la plage de déplacement jusqu'à 100 mm comme plage de mesure étendue. Distinguez et documentez les défauts ou les distorsions visuelles avec la dernière analyse d'imagerie d'informations couleur. Quantifiez la topographie de surface avec une résolution inférieure au nanomètre et capturez les détails les plus fins. Cette expertise se traduit par des solutions fiables de contrôle de la qualité des surfaces.