Caractérisation des surfaces sans contact

Afin de caractériser les surfaces de qualité et autres surfaces sophistiquées, on a besoin d'une technologie de mesure fiable, rapide et orientée vers l'application. Garantir la fonctionnalité et détecter les défauts à un stade précoce évite les surcoûts inutiles et augmente la qualité globale du produit ainsi que sa durée de vie. Polytec répond aux applications de métrologie de surface par une technologie optique innovante, de haute précision et sans contact qui fonctionne sur des surfaces rugueuses, lisses et granuleuses. Les interféromètres à lumière blanche de la famille TopMap sont des outils d'inspection de qualité établis pour les laboratoires de contrôle, dans des environnements de production ou en ligne.

NOUVEAU

SURFACES

Histoires de réussite de la métrologie optique des surfaces 3D (EN)

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Powerful surface metrology and reliable quality inspections depend on know-how, on insights and on experts. The new Micro.View®+ is the next generation optical surface profiler. Focus Finder and Focus Tracker greatly enhance the ease of use under all conditions. CST Continuous Scanning Technology allows for using the entire travel range of up to 100 mm as extended measurement range. Distinguish and document defects or visual distortions with the latest color information imaging analysis. Quantify surface topography with sub-nanometer resolution and capture the finest details. This expertise results in reliable surface quality control solutions.

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