光学、ガラス、透明材料の表面トポグラフィー
ポリテックの光学式表面形状測定機 TopMap は、光学部品やガラスなどの透明材料の品質検査に最適な、効率的な測定・検査ソリューションです。ポリテックの光学式表面形状測定装置は、厚み測定や、平坦度、段差、平行度などの形状パラメータをナノメートルの精度で高速に測定する、柔軟で使いやすい検査システムです。ポリテックは、粗さ、距離、厚さなど、お客様のご要望に応じたカスタムソリューションも提供しています。サブ）ナノメータ分解能の高精度データ、または大面積スキャンによる大面積サンプルの測定が可能です。高速測定と高い再現性 インライン、生産レベル、ラボで。
- レンズとミラーの測定
- 自由曲面光学部品の設計
- 回折光学素子（DOE）の検査
- レーザー・光学機器等の検査
レンズ、光学部品、ミラーの形状、平面度、粗さの測定
光学部品、ガラス、透明媒体の表面形状パラメータを測定し、平坦度や段差を評価します。TopMap 表面形状測定機は、レンズ、光学部品、自由曲面光学部品、ミラーの完全かつ迅速な検査を可能にし、設計の最適化や製造における品質管理を実現します。光学部品、ミラー、レンズなどの透明材料は、傷や欠陥に対する敏感さ（触覚測定）や反射率（光学測定）により、測定が難しい材料です。非接触光学測定技術を使用することで、触覚測定チップの傷や影響を防ぐことができます。ポリテックの大面積トポグラフィスキャニングは、ワーク全体または広い範囲をワンショットで捉えることができます。また、精巧な SST スマートスキャニング技術は、さまざまな難しい表面反射率の測定にも対応し、くすんだ表面、マットな表面、コーティングされた表面、光沢のある表面でも信頼性の高い測定性能を発揮します。
TopMap光学式プロファイラの代表的な光学用途は以下の通り
- ミラーの平面度測定
- レンズと自由曲面光学部品の完全な3D特性評価
- 薄膜やレイヤーの反り測定
- 層厚測定
- 形状、うねり、テクスチャーの分離検査
- サブnm領域での粗さ・微細構造解析
- スクラッチ検査に関連する欠陥検出と評価
- ミラーホルダーやレンズホルダーなどの精密機械部品の段差測定
- 光学精密機器（レーザー、干渉計など）の形状公差検査
- 上下面の平坦度・厚み・平行度をワンショットで複合測定
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