Materialverteilung auf Funktionsflächen kontrolliert modifizieren

Durch die Charakterisierung der Materialverteilung auf Funktionsflächen kann die Leistung der Produkte modifiziert und den Anforderungen entsprechend optimiert werden. Mit Weißlichtinterferometernder TopMap-Serie können Sie solche Oberflächen schnell und präzise erfassen, egal ob in Ihrem Messlabor oder in der Produktionsumgebung Entscheiden Sie sich daher für die Oberflächenmesssysteme von Polytec, konkret für die Modelle der TopMap-Familie.

Reibung, Rauheit und Relativbewegung von Komponenten

In einigen Anwendungen kann eine unerwünschte relative Bewegung von sich berührenden Oberflächen durch eine erhöhte Reibung vermieden werden, in dem auf einer dieser Flächen diamantene Partikel verteilt werden. Durch die Modifikation von Größe, Form und Menge wird die gewünschte Reibung erzielt.

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik