Accès à interconnexion verticale (VIA)

Contrôles qualité fiables : vérification de la profondeur de gravure dans les processus automatisés, mesure des distances et des paramètres de surface sur les accès d'interconnexion verticaux.

Caractérisation des accès d'interconnexion verticaux (VIA)

Les connexions électriques verticales, également appelées « accès d'interconnexion verticaux » ou VIA, sont principalement utilisées dans les circuits de commutation intégrés à haute densité et présentent des structures à rapport d'aspect élevé. Les TSV (through silicon VIA) en particulier sont devenus une technologie établie dans le segment des semi-conducteurs.

profilomètreLa métrologie optique de surface de Polytec permet des contrôles qualité faciles et fiables : vérification des profondeurs de gravure dans les processus automatisés, mesure des distances et des paramètres de surface sur les VIA. Les capteurs confocaux chromatiques et les systèmes de mesure basés sur des microscopes offrent des capacités de mesure polyvalentes, tant en laboratoire qu'au niveau de la production et en ligne.

Discutez de vos besoins avec nos experts

Commençons par une brève discussion sur vos pièces, vos tolérances et votre flux de travail. Si nécessaire, nous pouvons ajouter une étude de faisabilité, PolyMeasure (mesures contractuelles) ou un essai PolyRent comme étapes supplémentaires facultatives.

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