- Surface characterization in 3D using white-light interferometry
Brochure
- Quality control of optical polishing and optical components
Application note
- Characterizing flatness, step-height and parallelism on precision mechanics
Application note
- Optimizing grinding parameters by vibration and topography measurement
Application note
Topographie de surface de l'optique, du verre et des matériaux transparents
Trouvez des solutions de mesure et d'essai efficaces pour l'inspection de la qualité des optiques, du verre ou d'autres matériaux transparents dans la gamme de métrologie de surface optique TopMap. Les profileurs optiques de Polytec sont des systèmes d'inspection flexibles et faciles à utiliser pour mesurer l'épaisseur, déterminer les paramètres de forme tels que la planéité, la hauteur de marche ou le parallélisme - rapidement et avec une précision de l'ordre du nanomètre. Polytec propose également des solutions personnalisées en fonction de vos exigences en matière de rugosité, de distance ou d'épaisseur. Bénéficiez d'une grande précision avec des données d'une résolution (sub)nanométrique ou d'un balayage de grande surface pour couvrir de plus grands échantillons ou même plusieurs en une seule fois. Des mesures rapides pour une répétabilité élevée : En ligne, au niveau de la production et en laboratoire.
- Mesurer les lentilles et les miroirs
- Concevoir des optiques de forme libre
- Vérifier les éléments optiques diffractifs (DOE)
- Inspecter les équipements laser et optiques, etc.
Mesure de la forme, de la planéité et de la rugosité des lentilles, des optiques et des miroirs
Mesurez les paramètres de forme de la surface, évaluez la planéité ou la hauteur de marche sur les composants optiques, le verre et les supports transparents. Les profileurs de surface TopMap permettent des inspections complètes et rapides des lentilles, des optiques, des optiques de forme libre ou des miroirs pour l'optimisation de la conception et le contrôle de la qualité de la fabrication. Les matériaux transparents tels que les optiques, les miroirs ou les lentilles sont des matériaux difficiles à mesurer en raison de leur sensibilité aux rayures ou aux défauts (mesure tactile) et de leur réflectivité (mesure optique). La technologie de mesure optique sans contact permet d'éviter les rayures ou les influences des pointes de mesure tactile. Le balayage topographique de grandes surfaces de Polytec permet de capturer des pièces entières ou de grandes surfaces en une seule fois. La technologie élaborée SST Smart Scanning Technology permet également de mesurer des réflectivités de surface différentes et difficiles, offrant des performances de mesure fiables sur des surfaces mates, enduites et brillantes.
Les applications optiques typiques des profileurs optiques TopMap
- Mesure de la planéité des miroirs
- Caractérisation 3D complète de lentilles et d'optiques de forme libre
- Mesure du gauchissement de films ou de couches minces
- Mesure de l'épaisseur des couches
- Inspection séparée de la forme, de l'ondulation et de la texture
- Analyse de la rugosité et de la microstructure dans la plage sub-nm
- Détection et évaluation des défauts liés aux essais de rayures
- Mesure de la hauteur de marche sur des pièces mécaniques de précision telles que des supports de miroirs ou de lentilles
- Contrôle de la tolérance de forme des équipements optiques de précision (lasers, interféromètres, etc.)
- Mesure combinée de la planéité, de l'épaisseur et du parallélisme des surfaces supérieure et inférieure en une seule fois.
Autres applications
- Planéité épaisseur parallélisme
![Flatness Thickness Parallelism combined direct topography measurement]( "Flatness Thickness Parallelism combined direct topography measurement")
Flatness Thickness Parallelism combined direct topography measurement - Optical polishing
![Optical polishing inspecting micro scratches and imperfections on optics and glass components]( "Optical polishing inspecting micro scratches and imperfections on optics and glass components")
Optical polishing inspecting micro scratches and imperfections on optics and glass components - Épaisseur de dépôt
![Optical and areal step edge test showing a 75.2 nm thick coating]( "Optical and areal step edge test showing a 75.2 nm thick coating")
Optical and areal step edge test showing a 75.2 nm thick coating - Planéité de surface
![Mesure de la planéité des surfaces et parallélisme comme paramètre de forme]( "Mesure de la planéité des surfaces et parallélisme comme paramètre de forme")
Mesure de la planéité des surfaces et parallélisme comme paramètre de forme - Hauteur de marche
![Mesure de la hauteur des marches, des paramètres de forme et de la topographie de surface en 3D]( "Mesure de la hauteur des marches, des paramètres de forme et de la topographie de surface en 3D")
Mesure de la hauteur des marches, des paramètres de forme et de la topographie de surface en 3D
Produits associés
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View® est un profileur optique facile à utiliser dans une configuration compacte. Choisissez Micro.View® comme outil d'inspection rentable pour examiner les surfaces de précision jusqu'à l'échelle sub-nm, pour mesurer la rugosité, les textures, les microstructures et d'autres détails de surface. Les objectifs personnalisés de 0,6x à 111x et les options de platine permettent un réglage précis en fonction de l'application.
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ est un profileur de surface optique de nouvelle génération, de conception modulaire, qui permet de mesurer les textures de pièces difficiles, l'état de surface et les microstructures ou les MEMS avec une résolution inférieure au nanomètre. Le Focus Finder et le Focus Tracker permettent de maintenir les échantillons focalisés à tout moment sur la plage Z exceptionnellement large de 100 mm, avec un positionnement entièrement motorisé prêt pour les laboratoires et l'automatisation. Relevez le défi !
TopMap Pro.Surf
Pro.Surf est synonyme de caractérisation rapide et professionnelle des surfaces en 3D : La capture de 2 millions de points de mesure en quelques secondes permet de voir tous les détails. Pro.Surf maîtrise les flux de production difficiles avec des temps de mesure courts. Le champ de vision (FOV) exceptionnellement large de 44x433 mm permet de capturer de grands échantillons ou même plusieurs échantillons en une seule prise de vue, tandis que le stiching s'étend à 230x220 mm avec la grande plage Z de 70 mm pour plus de flexibilité.