Inscrivez-vous à l'atelier sur la métrologie des surfaces
Vous souhaitez en savoir plus sur les solutions efficaces d'évaluation des surfaces ? Avez-vous déjà utilisé des interféromètres à lumière blanche pour examiner rapidement et sur toute la surface de vos échantillons ? Vous souhaitez connaître les derniers développements dans le domaine de la topographie et de la métrologie de surface ? Apportez vos échantillons et nous mesurerons vos composants.
Venez à la journée TopMap le 10 octobre 2024 à Châtillon ! Un atelier pour tous les ingénieurs et techniciens de mesure, responsables qualité ainsi qu'aux chefs de projet dans le domaine du contrôle qualité et de la métrologie des surfaces.
- Point techno et comparatif de techniques de mesure
- Conseils individualisés pour votre étude de mesure
- Mesure et analyse de vos échantillons
- Remise d'un rapport d'évaluation personnel et gratuit
Profileurs de surface basés sur l'interférométrie à lumière blanche (WLI)
Les profileurs de surface de Polytec sont des systèmes de capteurs innovants, de haute précision et sans contact, qui permettent de caractériser en 3D l'ensemble de la topographie de surface d'une pièce ou de microstructures. La gamme de profileurs de surface TopMap est basée sur le principe de l'interférométrie à lumière blanche, également appelée interférométrie à balayage cohérent ou vertical ou radar à cohérence. Grâce à leur grande portée verticale, à leur résolution nanométrique et à leur capacité de mesurer la surface de grands échantillons ou de mesurer plusieurs échantillons en une seule fois, ces profileurs optiques sont parfaits pour les laboratoires de mesure ou les besoins de test de production. Les profileurs de surface TopMap permettent une mesure rapide et fiable, sans contact, de paramètres de surface tels que la planéité, la hauteur de marche et le parallélisme de structures d'échantillons de grande taille.
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View® est le profilomètre optique 3D compact et facile à utiliser avec 100mm de plage de mesure verticale. Micro.View® est la solution de contrôle qualité économique pour l'analyse de surfaces de précision et textures, la mesure de rugosité, microstructures et l’inspection de détails de surface.
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ est la nouvelle génération de profilomètre optique 3D avec conception modulaire pour un contrôle en laboratoire ou en ligne, spécialement adapté pour une mesure fiable et précise des applications les plus complexes en finition de surface et microstructures. Ses innovations « Focus Finder » (recherche de focus) et « Focus Tracker » (suivi du focus) permettent une meilleure qualité de mesure et un gain de temps avec des unités de positionnement motorisées prêtes pour l'automatisation. En savoir plus!
TopMap Pro.Surf
Système de mesure optique pour une caractérisation rapide et à grand champ optique des surfaces en 3D. La mesure surfacique du TopMap Pro.Surf permet de détecter tous les détails géométriques et structurels lors de l'inspection de la surface de la pièce. Le TopMap Pro.Surf se caractérise par des mesures très rapides pour des temps de cycle courts et un grand champ optique.
TopMap Pro.Surf+
La solution de métrologie optique 3D tout-en-un de Polytec. Cet interféromètre ultra précis à lumière blanche combine un capteur confocal chromatique pour les profils de rugosité avec une mesure surfacique des paramètres géométriques et de la déviation de forme dans un système multi-capteurs. Pro.Surf+ est la solution idéale pour mesurer la topographie de grands échantillons avec un large champ de vision (FOV) tout en caractérisant les détails structurels avec une résolution de l'ordre du nanomètre.
TopMap Metro.Lab
En tant que solution de mesure complète, le TopMap Metro.Lab est idéal pour de la mesure topographique de grande surface. Le très bon rapport qualité/prix le rend intéressant pour les entreprises avec de faibles volumes de travail.
