TopMap 表面剖面仪
Polytec 提供完整的光学表面计量解决方案，用于工程表面质量检测和形状评估 - 无论是数控加工精密零件的平面度或台阶高度、光滑光学元件的翘曲和形状，还是纹理、光洁度或 MEMS 和微结构分析。
我们制造最可靠的白光干涉仪，并提供应用服务和专业知识、4 年保修和终身免费软件更新。
我们的轮廓仪采用非接触式测量，保证测量的精确性和可重复性。 超大的垂直范围和高 Z 分辨率，以及令人印象深刻的视场角 (FOV)，甚至允许多样品测量，都将使您受益匪浅。 无论是对大型样品进行快速扫描，还是以亚纳米分辨率对纹理和粗糙度进行全面分析，TopMap轮廓仪都是您的最佳选择！
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TopMap Metro.Lab
即使预算较少，也要从面积和形式特征入手！ TopMap Metro.Lab作为完整而紧凑的表面测试站，可快速检测大型工件，从光亮表面到粗糙表面，都能获得可靠而可重复的结果。
TopMap Pro.Surf
Pro.Surf 是快速、专业的表面形貌 3D 测量解决方案： 在数秒内捕捉 200 万个测量点，确保看到每个细节。 Pro.Surf 能够以极快的测量速度应对具有挑战性的生产工作流程。 33x44 mm 的超大视场角 (FOV) 可在一次拍摄中捕捉大型样品甚至多个样品。 通过 70 毫米的大 Z 范围，拼接范围可扩展至 230x220 毫米，灵活性更高。
TopMap Pro.Surf+
多传感器轮廓测量系统可在超大视场（最大 230x220 毫米）上测量平面地形和形状，就像 Pro.Surf 常见的那样，同时还增加了用于补充粗糙度线轮廓评估的色度共焦传感器。 快速扫描、可重复测量，可在纳米范围内对形状和粗糙度进行综合表征。
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View®是一种易于使用的光学轮廓仪，采用紧凑型台式安装。 选择 Micro.View® 作为高性价比的检测工具，可检查精度达到亚纳米范围的精密工程表面，检测粗糙度、微结构和更多表面细节。 0.6x 至 111x 的定制物镜和载物台选项可根据具体应用进行微调。
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ 是采用模块化设计的下一代光学表面轮廓仪，可以亚纳米分辨率测量具有挑战性的工件纹理、表面光洁度和微结构或微机电系统。 Focus Finder 和 Focus Tracker 可帮助在 100 毫米超大 Z 范围内始终保持样品对焦，全电动定位可用于实验室和自动化。 挑战它！
