Défi et contexte
HUBER+SUHNER fabrique des composants micro-optiques de haute précision, tels que des filtres à couche mince, pour lesquels une qualité irréprochable est indispensable. Ces pièces sont de très petite taille, hautement réfléchissantes et théoriquement dotées d'une planéité élevée — une combinaison qui repousse les limites de la microscopie optique classique et rend difficile la mesure précise de leur géométrie de surface à l'aide d'outils standard. Afin de garantir la qualité sur laquelle comptent ses clients, HUBER+SUHNER avait besoin d'une méthode de mesure capable de déterminer de manière fiable la forme et la hauteur de ces composants complexes.
La solution : l'interférométrie à lumière blanche avec Micro.View
HUBER+SUHNER utilise l'interférométrie à lumière blanche sur l'Polytec Micro.View pour caractériser ces composants sans contact. Une tête de mesure à commande piézoélectrique effectue un balayage vertical et capture le motif d'interférence à chaque pas de hauteur. À partir de ces coupes, le logiciel reconstitue la surface et traduit les informations de hauteur en une carte topographique codée par couleur, permettant de détecter des variations de l'ordre de quelques centaines de nanomètres — une précision suffisante pour révéler des rayures et des détails de surface réels qu'un microscope ne pourrait pas percevoir.
Le résultat
Grâce à l'interférométrie à lumière blanche sans contact disponible sur Micro.View, HUBER+SUHNER obtient une vue 3D rapide et haute résolution de composants qui seraient autrement trop petits, trop plats ou trop réfléchissants pour être mesurés de manière conventionnelle. Cela renforce leur engagement en faveur d'une qualité optimale, en fournissant des données fiables sur la surface et la géométrie, ce qui permet un contrôle qualité fiable et une meilleure compréhension des processus dans la production micro-optique.
Les avantages du WLI expliqués par HUBER+SUHNER
Introduction rapide à la métrologie des surfaces
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