Oberflächenmesstechnik
Datenspeichertechnik
Festplatten sind allgegenwärtig und nahezu jeder ist darauf angewiesen, dass sie zuverlässig und einwandfrei funktionieren. Um diese wesentlichen Aspekte zu gewährleisten, wenden die Hersteller und deren Zulieferer viel Energie für die Entwicklung und Herstellung auf.
Polytec unterstützt sie dabei. Egal ob es sich um Festplattenlager, -scheiben oder Schreib-/Leseköpfe handelt. Mit der Oberflächenmesstechnik von Polytec erhöhen Sie die Zuverlässigkeit in Ihren Produktionsprozessen.
Broschüre Kompetenzfeld Oberflächenmesstechnik
Festplattenlager zuverlässig überprüfen
Bei Festplattenlaufwerken spielt die Lagerung der Diskspindel und des Aktuators bzw. Schreib-/Lesekopfs eine wichtige Rolle. Denn erst langlebige Lager ermöglichen einen dauerhaften und zuverlässigen Betrieb der Festplatte. Ganz gleich, ob im Entwicklungsprozess neuer Lagertypen, bei der Weiterentwicklung bestehender Lager oder bei der Stichprobenkontrolle während der Produktion – Oberflächenparameter zu vermessen ermöglicht Ihnen, wichtige Rückschlüsse für die zukünftige Produktion zu ziehen. So können Sie den Einfluss von Ebenheitsparametern auf die Lagerperformance untersuchen oder festgelegte Toleranzen in der Produktion zuverlässig überprüfen.
Oberflächenmesssysteme von Polytec, konkret die Modelle der TopMap-Familie, sind dafür bestens geeignet und genau auf Ihre Bedürfnisse zuschneidbar. Überzeugen Sie sich von unseren Lösungen.
Zugehörige Produkte
TopMap Metro.Lab
Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.
TopMap In.Line
Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein...
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
Festplatten berührunglos überwachen
Die Oberflächenbeschaffenheit der Festplattenscheibe entscheidet mitunter über die verlässliche Speicherung und Abrufung von Dateien und Infos, für Rechenzentren wie für die tagtägliche private Nutzung.
Polytec bietet Ihnen dafür die geeigneten Oberflächenmesssysteme, mit denen Sie vorgegebene Toleranzen einhalten, Defekte bereits an der Produktionslinie lokalisieren und somit schnell Oberflächenparameter auswerten. Dies alles erledigen die Modelle der TopMap-Familie berührungslos, schnell und individuell auf Ihre Anwendung optimierbar. Die Polytec Lösungen umfassen Mikroskopsysteme, mit denen Sie selbst kleinste Detail erkennen sowie großflächig messende Systeme mit unverändert hoher Höhenauflösung, um selbst große Flächen schnell zu vermessen.
Zugehörige Produkte
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap µ.Lab
Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die...
Oberflächenparameter von Schreib-/Leseköpfen ausmessen
Der Schreib-/Lesekopf einer Festplatte ist ein extrem komplexes Bauteil. Gerade in der Entwicklungsphase ist es wichtig, verschiedene Oberflächenparameter zu überprüfen, um sicherzustellen, dass später alles einwandfrei funktioniert.
Mit Oberflächenmesssystemen von Polytec erfassen Sie die gesamte Oberfläche eines Schreib-/Lesekopfs in einer einzigen Messung. So sparen Sie viel Zeit und können Höhenunterschiede verschiedener Flächen zueinander zuverlässig und einfach auswerten. Auch Ebenheit zu charakterisieren ist so kein Problem. Um Rauparameter auszumessen, können Sie je nach Anforderung neben großflächig messenden Systemen auch ein Mikroskopsystem einsetzen.
Zugehörige Produkte
TopMap In.Line
Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein...
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap µ.Lab
Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die...
