Wir laden Sie herzlich zur W3 Fair + Convention ein, um die Möglichkeiten optischer 3D-Oberflächencharakterisierung mit Weißlicht hautnah zu erleben. Unsere Lösungsangebote sind unter anderem:
- Form, Welligkeit und Ebenheit an Optiken mit hoher lateraler Auflösung prüfen.
- 3D Textur im sub-nm Bereich auflösen und Rauheitskennwerte berechnen.
- Ober- und Unterseite von Prüflingen wie Spiegeln, Filtern, Linsen oder Prismen gleichzeitig messen, um Ebenheit, Dicke und Parallelität flächenhaft in einer Messung zu erfassen.
Weitere Informationen finden Sie hier.
Ticketcode: SHLDN8HC