Wir freuen uns sehr Ihnen auf der preXcon unsere Messtechnik-Lösungen zu präsentieren:
Wir zeigen Ihnen an unserem Messestand unsere modulare Produktfamilie „ Micro.View “. Diese kombiniert optische Interferometrie mit Mikroskopoptik, um eine Vielzahl von Aufgaben im Bereich der Oberflächenmesstechnik zu lösen.
- Hochaufgelöste Oberflächenrauheit und Strukturdetails mit höchster Präzision dank CSI Coherence Scanning Interferometrie und True Stitching
- Wiederholbare und zuverlässige Qualitätskontrolle mit Focus Finder, Focus Tracker und Rezepturverwaltung
- Flexible Anpassung an unterschiedliche Probengrößen und Materialien mit CST Continuous Scanning Technology, True Stitching und großer Auswahl an Objektiven (0.6X .. 111X)
- In Labor und Produktion mit patentierter ECT Environmental Compensation Technology für verlässliche Ergebnisse trotz Störeinflüssen
Die daraus resultierende Präzision, Robustheit und Flexibilität macht den Micro.View zu einer hervorragenden Wahl für Anwendungen in den Bereichen Feinmechanik, Optik und optische Komponenten, Halbleiter und Mikroelektronik, MEMS und Mikrosysteme, Materialforschung und Tribologie – sowohl in Labor- als auch in produktionsorientierten Umgebungen.