Assurer la fonctionnalité des dispositifs de laboratoire sur puce
Les systèmes de laboratoire sur puce microfluidique (angl.: lab on a chip, LOC ), mettent en œuvre une multitude de processus simultanés sur le plus petit des espaces. Les laboratoires sur puce analysent les liquides sur une puce compacte pour l'analyse des processus biologiques, chimiques ou physiques. Les laboratoires sur puce utilisent la force capillaire pour transporter quelques picolitres ou microlitres d'un fluide. L'utilisation d'un microscope dédié à la métrologie des surfaces, comme les systèmes TopMap, vous permettent :
- De vérifier les tolérances dimensionnelles du canal microfluidique LOC
- D'évaluer la profondeur ou la largeur du canal du laboratoire sur puce avec une grande précision
- De déterminer le volume ou de mesurer la planéité sur l'ensemble du microship.
Si le parallélisme, la hauteur de marche ou la planéité du laboratoire sur puce ne sont pas dans les tolérances très strictes et conformes aux spécifications, cela affectera les performances et la fiabilité des analyses du laboratoire sur puce.
Caractérisation des laboratoires sur puce: mesure d'hauteur de marche, de profondeur des canaux ou de planéité
Avec un grand champ de vision (angl.: field of view, FoV) et une haute résolution verticale, les profilomètresoptiques TopMap permettent un examen direct de la profondeur des canaux des laboratoires sur puce ou une inspection géométrique de l'ensemble du laboratoire sur puce (angl.: lab on a chip, LOC) en une seule mesure. La conception optique télécentrique des interféromètres à lumière blanche présente un trajet de faisceau lumineux parallèle, ce qui permet de capturer le fond de canal des dispositifs de laboratoire sur puce sans effets d'ombre qui provoquent des angles morts sur les données de mesure. Les profilomètres basés sur le microscope de la série TopMap se concentrent sur l'inspection des microsystèmes ou des détails structurels, l'évaluation des rugosités et plus encore. En maintenant constante la résolution de l'axe z, les systèmes TopMap adaptent rapidement et facilement la résolution latérale à l'évolution des tâches de mesure en changeant d'objectif.
Produits associés
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ est la nouvelle génération de profilomètre optique 3D avec conception modulaire pour un contrôle en laboratoire ou en ligne, spécialement adapté pour une mesure fiable et précise des applications les plus complexes en finition de surface et microstructures. Ses innovations « Focus Finder » (recherche de focus) et « Focus Tracker » (suivi du focus) permettent une meilleure qualité de mesure et un gain de temps avec des unités de positionnement motorisées prêtes pour l'automatisation. En savoir plus!
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View® est le profilomètre optique 3D compact et facile à utiliser avec 100mm de plage de mesure verticale. Micro.View® est la solution de contrôle qualité économique pour l'analyse de surfaces de précision et textures, la mesure de rugosité, microstructures et l’inspection de détails de surface.
TopMap Pro.Surf
Optimal pour la caractérisation rapide et précise de surfaces 3D. La mesure de la surface garantit qu'aucun détail n'est négligé. Le TopMap Pro.Surf est caractérisé par sa vitesse de mesure et un large champ optique.
Autres applications dans le domaine de la biologie et médecine
- Implants
![Topographie des implants et caractérisation de la surface des instruments de soins dentaires]( "Topographie des implants et caractérisation de la surface des instruments de soins dentaires")
Topographie des implants et caractérisation de la surface des instruments de soins dentaires - Electronique flexible
![Flexible Elektronik gekonnt elektrisch leitend kleben]()
- Capteur de pression MEMS
![2D/3D profile of MEMS pressure sensor with 2.5x magnification and microscope measurement (courtesy: CIS)]( "2D/3D profile of MEMS pressure sensor with 2.5x magnification and microscope measurement (courtesy: CIS)")
2D/3D profile of MEMS pressure sensor with 2.5x magnification and microscope measurement. CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH - Paramètres de surface
![Surface parameter characterizing the form, waviness and texture of a workpiece]( "Surface parameter characterizing the form, waviness and texture of a workpiece")
Surface parameter characterizing the form, waviness and texture of a workpiece
