确保微流控芯片实验室设备的功能
微流控芯片实验室系统（LoC）能在极小空间内集成并执行复杂流程，在生物、化学、物理等领域的实时监测与在线诊断中应用广泛。其利用毛细作用力驱动微量流体在微流控通道传输，对通道结构精度要求极高。
Polytec 的 TopMap 3D 表面测量等非接触式技术，可精确检测微流控通道尺寸精度，精准评估深度、宽度，确定容积并测量表面平整度。只有关键指标契合严苛公差标准，才能保障 LoC 设备在过程分析中的性能与可靠性，为科研及应用筑牢基础。
芯片实验室生产的质量与流程管控
研发服务专家哈恩 - 席卡德利用微系统技术，推动智能化产品从创意走向量产。其联合产业伙伴，在传感器、物联网智能嵌入式系统、人工智能、芯片实验室及分析、电化学能源系统等领域，实现诸多创新成果。
以用于结核病检测的芯片实验室设计为例，生产中一大挑战是精准匹配密封工具与卡盒高度。高度过低，密封力不足致卡盒密封不严；高度过高，压力飞溅使熔融物堵塞细微通道，影响检测功能 。
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哈恩 - 席卡德（Hahn - Schickard）的工艺工程师雷蒙德・罗特（Raimund Rother）:
给卡盒贴合密封薄膜困难重重。一方面，既要保证密封强度，又不能堵塞卡盒细微通道；另一方面，注塑厚度存在无法消除的公差，密封时得加以补偿。为精准调整密封工具，我们用扫描式白光干涉仪测量卡盒高度，获取三维测量数据。这些数据为密封工具设计提供依据，助力实现理想密封效果 。
芯片实验室的关键参数：台阶高度、通道深度与平整度
Polytec 的 TopMap 光学轮廓仪用于芯片实验室检测优势显著。它视场广、垂直分辨率高，单次测量即可快速完成通道深度检测与整体几何分析，数秒内生成数百万数据点。
其白光干涉仪采用远心光学设计，平行光路能精准捕捉通道底部，避免阴影致数据盲点。基于显微镜原理，TopMap 系列适用于微系统、结构细节检测及粗糙度评估。操作时，可在保持 z 轴分辨率稳定的同时，通过换镜头灵活调整横向分辨率，适配多样测量任务 。
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