クロマティック共焦点センサ
距離や厚さを測定する非接触クロマティック共焦点センサは、産業界や研究機関で多く利用されています。入射した白色光をクロマティックレンズで結像し、z軸方向に単色光の連続体を得ることで、光軸を「色分け」します。このカラーフィールド内に物体が存在すると、その表面に単一の波長が固定され、光学系に反射されます。反射されたビームは、フィルター用のピンホールを通過し、分光器で取得されます。ビームの特定波長が計算され、測定フィールド内の表面の位置が正確に決定されます。クロマティック共焦点センサは、信頼性が高く、正確で再現性のある寸法測定を高解像度で実現します。
Web session "Characterizing ultra-precision & sealing surfaces"
Compact web session on 3D surface characterization of ultra-precision machined (UPM) and sealing components — from lapped, CNC ground to polished texture, finish and more.
技術比較において、垂直解像度と横方向解像度、平滑表面または粗さ測定における最適な適用範囲、スティッチングの有無など、各種一般的な表面測定手法の長所と限界について詳しくご覧ください。
- 白色光干渉法
- 共焦点顕微鏡
- 焦点変動
- 色差共焦点センサー
当社の幅広いWLIプロファイラーをご覧ください
マイクロプロファイラー
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
マクロプロファイラ
Pro.Surf は、大型部品やマルチパートトレイの平面度・段差・平行度を非接触でわずか数秒で検査します。衝突を防ぐテレセントリック光学系は穴の内部まで測定でき、生産現場が求める精度と再現性を実現します。
Metro.Lab
Metro.Lab is a compact, wide-area bench-top surface profiler. It combines high measurement performance with a small footprint — ideal for space- or budget-conscious applications that still require reliable 3D surface data.
どのプロファイラーが課題に適しているかお悩みですか？ 2つのガイドが選択をサポートします。
2つの簡潔なガイドが重要な選択をご案内します。一方は適切な測定技術の選択を、もう一方は適切な測定スケール（ミクロかマクロか）の選択をサポートします。さらに、トライアル（試用購入）サービスをご利用いただけば、お客様自身の部品で選択を実際にご確認いただけます。
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