非接触表面形状計測

精密に製造または加工された構造物の品質検査には、アプリケーションに適した、はやくて信頼性のある測定技術が求められます。製造または加工工程の早い段階で欠陥品を検出/除去できれば、歩留まりが向上し、低コストで高品質な製品を生産することができます。

ポリテックの白色光干渉計を用いた表面形状測定システムTopMapシリーズは、革新的な非接触光学技術によって、表面の粗さや、滑らかさ、段差などを高精度に検出します。品質管理の現場またはインラインで、品質検査ツールとして使用できます。

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3次元表面形状の測定事例

表面形状

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Powerful surface metrology and reliable quality inspections depend on know-how, on insights and on experts. The new Micro.View® and Micro.View®+ are the next generation optical surface profilers. Focus Finder and Focus Tracker greatly enhance the ease of use under all conditions. CST Continuous Scanning Technology allows for using the entire travel range of up to 100 mm as extended measurement range. Distinguish and document defects or visual distortions with the latest color information imaging analysis. Quantify surface topography with sub-nanometer resolution and capture the finest details. This expertise results in reliable surface quality control solutions.

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