29.05.2026

Garantizar la máxima calidad de componentes microópticos con inspección WLI | Caso

HUBER+SUHNER fabrica componentes microópticos como filtros de película delgada, donde la calidad constante es un objetivo clave. Para mantener el alto estándar en el que confían sus clientes, el equipo utiliza interferometría de luz blanca en el Micro.View de Polytec para caracterizar estas piezas exigentes, sin contacto y con resolución a escala nanométrica.

Reto y situación

HUBER+SUHNER fabrica componentes microópticos de alta precisión que son muy pequeños, altamente reflectantes y nominalmente planos: una combinación que lleva la microscopía óptica convencional al límite y hace difícil captar su verdadera geometría de superficie con herramientas estándar. Para salvaguardar la calidad en la que confían sus clientes, HUBER+SUHNER necesitaba un método de medición capaz de resolver de forma fiable la forma y la altura en estos componentes tan exigentes.

Sealing components
Flatness of pump sealing ring

La solución: interferometría de luz blanca con Micro.View

HUBER+SUHNER utiliza interferometría de luz blanca en el Micro.View de Polytec para caracterizar estos componentes sin contacto. Un cabezal de medición accionado por piezoeléctrico explora verticalmente y captura el patrón de interferencia en cada paso de altura. A partir de estos cortes, el software reconstruye la superficie y traduce la información de altura en un mapa de topografía codificado por colores, resolviendo variaciones de hasta unos pocos cientos de nanómetros, lo bastante fino como para revelar arañazos y detalles reales de la superficie que un microscopio pasaría por alto.

Pro.Surf macro profiler for flatness, step height and other production parameters

El resultado

Con la interferometría de luz blanca sin contacto en el Micro.View, HUBER+SUHNER obtiene una vista 3D rápida y de alta resolución de componentes que, de otro modo, serían demasiado pequeños, demasiado planos y demasiado reflectantes para medirse de forma convencional. Esto respalda su compromiso con la máxima calidad, proporcionando datos fiables de superficie y geometría para un control de calidad seguro y una comprensión más profunda del proceso en la producción microóptica.

Las ventajas de la WLI explicadas por HUBER+SUHNER

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