Caracterización de la topografía y la dinámica de los microsistemas y los MEMS
PolytecGracias a los versátiles sistemas de medición de superficies de Polytec, podrás llevar a cabo tus tareas de micro y nanotecnología de forma fiable, rápida y con un alto nivel de precisión. Podrá medir la profundidad de los canales en su Lab on a chip, determinar la altura de escaló en el embalaje de MEMS, comprobar la planicidad de los sensores de presión MEMS y caracterizar los MEMS mediante parámetros de superficies. Incluso realizar mediciones dinámicas fuera del plano y en el plano en filtros de RF para determinar frecuencias de resonancia en MHz será ahora una tarea sencilla para usted, gracias a la serie serie MSA Micro System Analyzer .
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Electrónica flexible
Polytec Los sistemas ópticos garantizan el Control de proceso y la comprobación de tolerancias en la electrónica híbrida impresa y sobre lámina con chips integrados.
Die Bonding
En el Die Bonding con resina epoxi, la colocación y fijación precisas del chip son fundamentales para garantizar la calidad. Solicita la Tecnología de medición de superficies TopMap a para el Control de proceso del Die Bonding.
Lab on a chip
Comprueba tus dispositivos Lab on a chip (LoC) utilizando datos de medición en 3D para evaluar los parámetros de forma con fines de Control de calidad: profundidad del canal, altura de escaló y planicidad.
Tareas de medición relacionadas
Control de calidad de los recubrimientos en 3D
Control de calidad del recubrimiento en 3D. Evaluación de la textura previa al recubrimiento, los defectos posteriores al recubrimiento y el espesor de la película.
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Tecnología de medición de superficies en microestructuras
Topografía y dinámica de microestructuras y para nanotecnología. Geometría 3D, Rugosidad y movimiento resuelto en el tiempo.
Perfilómetros ópticos y vibrómetros para la micro y nanotecnología
Macro Profiler
Pro.Surf Comprueba la planicidad, la altura de escaló y el paralelismo en piezas de gran tamaño y bandejas con varias piezas, sin contacto y en cuestión de segundos. El Sistema óptico telecéntrico, que evita colisiones, mide incluso en orificios, con la precisión de repetición que exige la producción.
Micro Profiler
Micro.View Los sistemas Profiler están optimizados para realizar mediciones con una resolución inferior al nanómetro. Gracias a su óptica de enfoque y a su alta Resolución vertical, permiten realizar un análisis detallado de las microestructuras, el Acabado de superficies y la distribución del material, en los que incluso las desviaciones más pequeñas son importantes.
Vibrómetros basados en microscopios
Inspirándose en el rápido avance de los sistemas microelectromecánicos (MEMS), Polytec presenta esta línea de productos altamente innovadora de sistemas de medición basados en microscopios. Los analizadores de microsistemas MSA de Polytec validan de forma fiable la dinámica y la topografía de los microsistemas con la máxima precisión.
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Empecemos con una breve charla sobre sus piezas, tolerancias y flujo de trabajo; y, si resulta útil, podemos añadir un estudio de viabilidad, un servicio de mediciones por encargo ( PolyMeasure ) o una prueba de PolyRent como siguientes pasos opcionales.
