Caracterización de la electrónica flexible en 3D
La electrónica flexible abre un amplio abanico de nuevas aplicaciones en los ámbitos de los dispositivos wearables, las células solares de capa fina, los dispositivos RFID y las pantallas utilizadas en salpicaderos de automóviles o en aplicaciones médicas. En todos estos casos de uso, la fiabilidad del producto es un indicador clave de calidad. Además, existe una demanda creciente de componentes que estén sincronizados para el Procesamiento de las señales, la comunicación y la generación de energía.
Para este tipo de aplicaciones, la interferometría de luz blanca permite escanear toda la superficie de la electrónica flexible híbrida de una sola vez. Este método de medición óptico y no destructivo caracteriza la electrónica impresa en cuanto a parámetros de forma, rugosidad y detalles estructurales, y contribuye a garantizar la calidad y la funcionalidad de los componentes electrónicos.
Parámetros de forma y rugosidad de superficie de la electrónica impresa
El escaneo de superficies y la evaluación de la información de altura en 3D permiten una caracterización rápida y fiable de la electrónica impresa y flexible. La tecnología de medición de superficies en 3D de Polytec proporciona datos relevantes tanto para la calidad de la electrónica como para la estabilidad del proceso de la electrónica flexible impresa. El modo avanzado de información de color ayuda a determinar y localizar defectos.
Para la integración en línea y para procesos de fabricación semiautomáticos o totalmente automatizados de electrónica flexible, los cabezales de medición de TopMap pueden integrarse fácilmente en las líneas de producción, ofreciendo soluciones personalizadas para la inspección en línea. Si lo desean, los usuarios pueden gestionar y cargar ajustes de medición predefinidos, lo que permite realizar inspecciones con un solo clic a nivel de producción mediante recetas de medición. Nuestros PolyXperts estarán encantados de ayudar en todas las fases del proyecto, como el desarrollo de rutinas y evaluaciones personalizadas, utilizando la arquitectura de software abierta.
Características de la microelectrónica
Perfilómetro de superficies de montaje
Micro Profiler
Micro.View Los sistemas Profiler están optimizados para realizar mediciones con una resolución inferior al nanómetro. Gracias a su óptica de enfoque y a su alta Resolución vertical, permiten realizar un análisis detallado de las microestructuras, el Acabado de superficies y la distribución del material, en los que incluso las desviaciones más pequeñas son importantes.
Macro Profiler
Pro.Surf Comprueba la planicidad, la altura de escaló y el paralelismo en piezas de gran tamaño y bandejas con varias piezas, sin contacto y en cuestión de segundos. El Sistema óptico telecéntrico, que evita colisiones, mide incluso en orificios, con la precisión de repetición que exige la producción.
Metro.Lab
Metro.Lab Es un perfilómetro de superficies compacto y de amplio campo de medición. Combina un alto rendimiento de medición con un tamaño reducido, lo que lo hace ideal para aplicaciones en las que el espacio o el presupuesto son factores importantes, pero que aún así requieren datos de superficie 3D fiables.
¿No sabes qué generador de perfiles se adapta mejor a tu tarea? Aquí tienes dos guías que te ayudarán a decidirte.
Dos breves guías te ayudan a tomar las decisiones clave: una te ayuda a elegir la tecnología de medición adecuada y la otra, la escala de medición adecuada —micro o macro—. Además, con nuestra oferta de «prueba antes de comprar», tendrás la oportunidad de confirmar tu elección de forma práctica con tus propias piezas.
Aplicaciones y tareas de medición relacionadas
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Empecemos con una breve charla sobre sus piezas, tolerancias y flujo de trabajo; y, si resulta útil, podemos añadir un estudio de viabilidad, un servicio de mediciones por encargo ( PolyMeasure ) o una prueba de PolyRent como siguientes pasos opcionales.
