保护芯片实验室设备的功能

微流控芯片实验室系统，简称 LOC，可在最小的空间内实现大量的过程。 芯片实验室分析紧凑型芯片上的液体，用于生物、化学或物理过程的过程分析。

芯片实验室使用毛细管力来传输几皮升或微升的流体。

使用 TopMap 轮廓仪等基于显微镜的专用表面计量，允许您检查微流体 芯片实验 通道的尺寸公差，以高精度评估芯片实验室通道深度或宽度，确定体积或测量整个芯片的平面度。

如果芯片实验室的平行度、台阶高度或平面度不在非常严格的公差范围内，并且不符合规范，这将影响芯片实验室分析的性能和可靠性。

Lab-on-a-Chip-System für Tuberkulose-Tests (Hahn-Schickard)
Lab-on-a-Chip-System für Tuberkulose-Tests (Hahn-Schickard)
3D topography and height measurement of Lab-On-Chip cartridge (Hahn-Schickard)
3D topography and height measurement of Lab-On-Chip cartridge (Hahn-Schickard)
Lab-on-a-Chip-System für Tuberkulose-Tests (Hahn-Schickard)
Lab-on-a-Chip-System für Tuberkulose-Tests (Hahn-Schickard)
3D topography and height measurement of Lab-On-Chip cartridge (Hahn-Schickard)
3D topography and height measurement of Lab-On-Chip cartridge (Hahn-Schickard)

实验室芯片生产的质量和流程控制

研发服务专家 Hahn-Schickard 公司利用微系统技术开发从创意到制造的智能产品。Hahn-Schickard 公司与工业合作伙伴一起，在传感器技术、物联网（IoT, Internet of Things）智能嵌入式系统、人工智能（AI, Artificial Intelligence）、片上实验室（LoC, Lab-on-a-chip）和分析以及电化学能源系统等领域实现创新产品和技术。在他们用于结核病检测的片上实验室设计中，片上实验室生产过程中的一个挑战是如何将密封工具的高度与盒体精确匹配。如果高度太低，密封力就太小，滤芯就不紧。如果高度过高，则会出现压力飞溅，熔体会堵塞细小通道。

 

RnD engineer Raimund Rother from Hahn-Schickard about the role of whitelight-interferometry evaluating their lab-on-a-chip cartridge design
RnD engineer Raimund Rother from Hahn-Schickard about the role of whitelight-interferometry evaluating their lab-on-a-chip cartridge design

Raimund Rother, process engineer at Hahn-Schickard:

Applying the sealing film to the cartridges is challenging: on the one hand, the demand of achieving a high seal strength without closing the fine channels of the cartridge during bonding. Secondly, production tolerances regarding the injection molding thicknesses cannot be eliminated completely, which has to be compensated when sealing. To adjust the sealing tool precisely, we measure the height levels of the cartridge using a scanning whitelight interferometer. This 3D measurement data then forms the basis for designing the sealing tool.

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通过测量通道深度、通道宽度、平整度和拓扑结构测试片上实验室
通过测量通道深度、通道宽度、平整度和拓扑结构测试片上实验室
Analysis of the 3D topography of a lab-on-a-chip
片上实验室的三维拓扑结构分析
通过测量通道深度、通道宽度、平整度和拓扑结构测试片上实验室
通过测量通道深度、通道宽度、平整度和拓扑结构测试片上实验室
Analysis of the 3D topography of a lab-on-a-chip
片上实验室的三维拓扑结构分析

通过测量台阶高度、通道深度或平坦度来表征芯片实验室

通过大视场和高垂直分辨率，TopMap光学轮廓仪只需一次测量即可直接检查整个芯片实验室（LOC）的通道深度和几何形状。

白光干涉仪的远心光学设计显示了平行光束路径，能够捕获芯片实验室设备的通道底部，而不会导致测量数据出现盲点的阴影效应。

TopMap 系列基于显微镜的轮廓仪专注于检查微系统或结构细节、粗糙度评估等。

在保持 Z 轴分辨率不变的情况下，TopMap 系统通过更换镜头快速轻松地调整横向分辨率以适应不断变化的测量任务。

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