全场扫描式光学振动测量
在产品研发进程中,扫描式激光测振仪堪称得力助手,能够稳定可靠且精准无误地承担起振动测量重任。通过振型和特征模态检测,从噪声、振动与声振粗糙度(NVH)领域,到声学研究、结构动力学分析,再延伸至超声波分析、有限元模型(FEM)验证以及无损测试等诸多方面的难题,均能迎刃而解 。
亮点
- 非接触式激光振动测量
- 全场测量,具有高空间分辨率
- 可配备笔记本电脑的紧凑型系统或经典的箱架式系统
- 开放式数据和控制接口,以适应具体应用
- 可以升级和扩展成 3D 系统
- 多种选配件和软件
激光测振仪关注微小细节
Polytec 激光测振仪以激光作为核心探测手段,在测量过程中不会对被测对象产生任何附加质量影响,其带宽范围极为宽泛,从 DC(直流)覆盖至 GHz 频段。凭借这一特性,它能够以非接触的方式,精准测量生物医学样品、电子元件,以及像 MEMS 这类微结构等精密结构体的振动、声学和动力学特性。
Polytec 激光测振仪能够精确获取样品的频率响应,进而确定其共振频率、脉冲响应以及阻尼特性等关键参数。同时,该仪器还能深度挖掘更多振动细节,所得到的振型数据可直接应用于模型验证工作。
无论您的样品尺寸大小如何,Polytec 激光测振仪都能凭借其卓越性能,成为满足您测量需求的不二之选!
如何用Polytec 公司的 PSV 扫描式激光测振仪测量振型,5个简单步骤即可!
配件和组件
光学选配件

PSV-G-500 高精度形貌扫描单元
集成式高性能激光测距传感器,从扫描式激光测振仪视角测量样品几何形状

PSV-A-440 旋转解调器
用于对旋转物体进行轴向测量。可锁定旋转状态,并能够在转速高达 24000 rpm 的情况下,实现如同物体静止时一样的测量效果

PSV-A-410 近扫单元
适用于近距离测量,测量小型部件时尤其推荐。配备一套摄像机近扫镜头。另有专为小型反光部件设计的 PSV-A-CL-xxx 显微扫描镜头可供选择

PSV-A-CL-xxx 显微扫描镜头
平行化光路设计,适用于测量小型部件以及类镜表面,需搭配PSV-A-410 近扫镜头使用

PSV-A-HNeBF 氦氖滤光片
陷波滤波器,用于在测量极小部件或类镜表面时,提升激光光斑的可见度

PSV-A-RLight LED环形照明单元
用于照亮小型测试物体的光纤环形LED灯。需搭配 PSV-A-410 近扫单元使用

PSV-A-526 保护镜头
保护扫描头免受灰尘、风的影响,并避免高分贝声激励对其造成损害

A-MIR-xxxx 反射镜组
在空间受限、难以直接测量的区域开展工作时,借助反射镜组,测量作业便能顺利进行
三脚架、测试台架、定位台

VIB-A-T02 带云台三脚架

PSV-A-T18 垂直测试台
用于小型部件测试的 PSV 扫描头的电动定位装置
其它

PSV-A-013 移动式工作站
符合人体工程学设计的移动工作站,设有存储空间,可收纳所有零部件和配件

PSV-A-560 相干优化
激光稳频技术,提高整体信噪比

外部扫描控制
允许通过外部电压信号对扫描摆镜进行控制

VIB-A-HEAD 耳机
配有噪音限制器的耳机,用于聆听测振仪发出的信号

PSV-A-430 声触发单元
如果噪声超过某个特定阈值,就会激活门控输入。适用于诸如刹车异响测量等事件触发应用场景

可扩展自动模态锤(SAM)
在开展试验模态测试时,可利用本设备,以稳定、可重复的力值对样品实施激励。设备配置灵活多变,能够杜绝二次敲击现象,确保测试数据稳定可靠

A-RET-xxxx 反光膜
测量不良反光表面时,用于改善信噪比的喷剂、胶带、薄片和微玻璃珠